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[参考译文] ADC3224:ADC 在同步采样中的使用

Guru**** 1283060 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC3224
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/736561/adc3224-adc-usage-in-syncronous-sampling

器件型号:ADC3224

您好!  

数据表中未介绍 SYSREF 功能和用法。

那么、我应该何时以及如何使用它呢?

世卫组织孔径延迟随温度+20++50C 的变化而变化。 以及器件之间温度变化的延迟变化表现如何?

我预计通道的孔径延迟会保持一定的恒定、因此我可以进行工厂校准。

BR、Timo

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    您好、Timo、

    我将仔细研究您的问题、并将很快再次与您联系。

    此致、

    Dan
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    您好、Timo、

    我已联系设计团队、以获取您请求的信息。 感谢您的耐心等待!

    此致、

    Dan

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    我刚才用谷歌搜索了 SYSCLK adc3224、找到了这个线程。 我正在等待答案。 数据表和 EVM 用户指南实际上应该使用您可以提供的任何信息进行更新。

    它们具有设置和保持时间、因此我可以推断、sysref 应该是同步逻辑信号、而不是时钟、但没有时序图、操作理论写入或示例。 我想、这是一个单周期宽脉冲、高电平有效、在 FCLK 输出开始时具有一些未指定但固定的时序关系。

    完全不清楚、如果我在其中放置一个50%占空比帧信号、或者如果我动态更改了它、在传输中的样本会发生什么情况... 不是我想要的... :-)

    Nick

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    您好、Timo 和 Nick、

    SYSREF 用于同步/复位内部时钟分频器。 这允许多个器件同步。 数据表的第17页说明了 SYSREF 电压电平以及与采样时钟相关的所需设置和保持时间。

    关于孔径抖动、两个器件之间的孔径延迟预计在整个温度范围内为+/- 200ps。

    此致、

    Dan

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    好的、因此 sysref 是在 CLK 之前1ns 设置时间和0.1ns 保持时间的脉冲。 这一点现在已经很清楚了。

    是的、我可以看到延迟变化为+-200ps、但我对它在我的窄温度范围 +20+50C 内的变化感兴趣。 我能不能指望它是线性的+-20ps 或令人沮丧的其他东西。

    BR、Timo  

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    您好、Timo、

    不同器件间孔径抖动差异的主要驱动因素是工艺变化、因此在该测量中很难精确。

    回到数据表、在相同的温度和电源电压下、两个单元之间存在+/- 150ps 的孔径延迟。 温度范围内的+-20ps 变化是一个公平的假设。

    此致、

    Dan