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器件型号：DAC3482 主题中讨论的其他器件：DAC34SH84、
我们在某些列出的产品中使用高速 DAC 芯片、尤其是 DAC34SH84、DAC3482、在测试过程中、发现 DAC 的 IQ 信号附近有一个磁鼓封装。
因此、DAC 自性能由 DAC 自检编号验证、Q 数据通过 DAC 的2：1导通电阻连接到频谱仪、并测量中间频率信号的相位噪声特性、 在2M 的远程检测周围存在凸起情况)。
1.DAC3482测试结果
下面的图2显示了测试结果：
图 巴伦后 DAC3482 I 信号的两相噪声测试结果
发测试模式下：μ A
CLI write_txdareg 0x2D 0x0005
CLI write_txdareg 0x30 0x3FFF
DAC34SH84测试结果
图3是 DAC34SH84测试的结果。
图 3平衡-非平衡变压器后 DAC34SH84 I 信号的相位噪声测试结果。
DAC1627D1G25测试结果
下面的图4是 DAC1627D1G25测试的结果。 器件是由 NXP 制造商制造的芯片、用于我们的上一代产品。 DAC 的相位噪声也可通过内部自检的数量看出、并且发现相位噪声和1MHz-10MHz 之间没有任何变化。
图 5平衡-非平衡变压器后 DAC1627D1G25 I 信号的相位噪声测试结果。
