我的设计是将来自4个热电偶的数据数字化、转换速率可以在低速率和至少40SPS 的高速率之间进行更改。 该设计还必须提供烧毁检测。
AVDD=2.5V、AVSS=-2.5V、PGA 增益为 x16 (+/- 128mV)。 这些输入与数据表第83页(图120)中热电偶输入所描述的一样。 在+输入和2.5V 以及负输入和-2.5V 之间使用10m 偏置电阻器、以方便烧毁检测并提供所需的偏置。 对于 CDIFF、输入滤波器的值为1K、680pF 和.1uF。 连续转换模式与以下 MUX0输出数据组之一一起使用、这些数据组在4次连续32b 数据移位时重复:400008FF 40001AFF 40002CFF 40003EFF。 BCS 和 VBIAS 均关闭。 使用内部基准。
以5SPS (每通道1.25SPS)运行时、运行情况符合预期。 在10SPS 和20SPS 下获得了类似的结果。 当以40SPS 的速率运行时、位于开放通道之后的通道的数字化数据(显示满量程正数据)在正方向偏移18uV、如果数据速率为320、则偏移93uV。 如果前一通道上的电压仅介于150mV 和200mV (超范围正极)之间、则输出噪声较大、在正确读数和偏移读数之间波动。
如果我移除10M 电阻器、请在所有8个输入引脚上使用 VBIAS、然后仅在确实需要烧毁检测时使用 BCS、这是否是一种解决方案?
是否可以在负输入端启用 VBIAS、然后使用 IDAC 在2.74K 电阻器上生成50uA 电流、并从该点到正输入端使用10M 电阻器?
还有其他选择要考虑吗?
谢谢、
Chris