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[参考译文] ADS1262：即使连接到 testdacs 的模拟输入也无法满足转换结果。

admin
Guru**** 2394265 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS1262

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/731777/ads1262-converted-result-isnt-satisfied-even-analog-inputs-connected-to-testdacs

器件型号：ADS1262

相关人员、

我叫 Celal。 我的电路包含在 ads1262、模拟陀螺仪(adxrs624)和 ESP8266 Arduino 板中。 附件中 ads1262的连接和 PCB 布局。 我使用此论坛中的通用代码、如下所示。

ADs1262_Reg_Write (power、0x11)；delay (10)；//11h (默认值)内部基准被启用
ADs1262_ReG_Write (interface、0x0D)；delay (10)；//05h (默认值)启用状态字节、启用校验和
ADs1262_ReG_Write (MODE0、0x00)；delay (10)；//00h (默认值)连续转换模式| 0x40脉冲转换模式(单次转换)
ADs1262_ReG_Write (MODE1、0x00)；delay (10)；//80h (默认值) FIR 滤波器| 00h sinc1 | 60h sinc4
ads1262_ReG_Write (Mode2、0x89)；delay (10)；//04h (默认值)启用 PGA 的1V/V 20sps| 5Ch 32V/V 7200sps | 5Fh 32V/V 38400sps
ADs1262_ReG_Write (INPMUX、0xEE)；delay (10)；//01h (默认值)多路复用器、AIN0 e AIN1 | 23h AIN2 e AIN3
ADs1262_Reg_Write (OFCAL0、0x00)；Delay (10)；//00h (默认值)偏移校准寄存器
ADs1262_Reg_Write (OFCAL1、0x00)；Delay (10)；//00h (默认值)偏移校准寄存器
ADs1262_Reg_Write (OFCAL2、0x00)；Delay (10)；//00h (默认值)偏移校准寄存器
ADs1262_Reg_Write (FSCAL0、0x00)；Delay (10)；//00h (默认值)满量程校准寄存器
ADs1262_Reg_Write (FSCAL1、0x00)；Delay (10)；//00h (默认值)满量程校准寄存器
ADs1262_Reg_Write (FSCAL2、0x40)；Delay (10)；//40h (默认值)满量程校准寄存器
ADs1262_ReG_Write (IDACMUX、0xBB)；delay (10)；//BBH (默认值)输出多路复用器、无连接、无连接
ads1262_ReG_Write (IDACMAG、0x00)；delay (10)；//00h (默认值)电流幅度、关闭
ADs1262_ReG_Write (REFMUX、0x00)；Delay (10)；//00h (默认值)基准多路复用器、2.5V、2.5V
ads1262_ReG_Write (TDACP、0x00)；delay (10)；//00h (默认值) TDACP、无连接
ADs1262_Reg_Write (TDACN、0x11)；delay (10)；//00h (默认值) TDACN、无连接
ADs1262_Reg_Write (GPIOCON、0x00)；delay (10)；//00h (默认值) GPIO 未连接
ADs1262_Reg_Write (GPIODIR、0x00)；delay (10)；//00h (默认值) GPIO 输出
ADs1262_Reg_Write (GPIODAT、0x00)；delay (10)；//00h (默认值) GPIO 低电平
ADs1262_Reg_Write (ADC2CFG、0x00)；delay (10)；//00h (默认值) ADC2
ADs1262_ReG_Write (ADC2MUX、0x01)；delay (10)；//01h (默认值)
ADs1262_ReG_Write (ADC2OFC0、0x00)；delay (10)；//00h (默认值)
ads1262_ReG_Write (ADC2OFC1、0x00)；delay (10)；//00h (默认值)
ADs1262_ReG_Write (ADC2FSC0、0x00)；delay (10)；//00h (默认值)
ADs1262_ReG_Write (ADC2FSC1、0x40)；delay (10)；//40h (默认值)
spi.transfer (start)；  

根据 数据表、我选择了正极和负极等模拟输入的测试 DAC、两者之间的差值约 为7.8125mV。  我得到的结果为7.84mV 至8.15mV。  simple span=(8.15-7.84)/(8.15+7.84)/2)*100=4%

我预期的 是简单量程的0.4%、 但 ADC 输出 的光度是预期的10倍。

您能否提出有关改进结果的任何提示或技巧？

e2e.ti.com/.../pm_5F00_sch.pdf

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    TI__Guru**** 2394265 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Celal、

    欢迎访问 TI E2E 论坛！

    根据您的寄存器配置、您好像是将 mode2寄存器编程为"0x89"、这样会绕过内部 PGA。 该设置尤其可能会增加观察到的增益误差、因为它要求源的输出阻抗非常低、以便能够直接驱动 ADC 输入。

    内部测试 DAC 是一个不具有低输出阻抗的电阻器串、因此我建议在测量测试 DAC 信号时启用 PGA (即通过将 Mode2寄存器设置更改为"0x09")。

    尝试进行该修改、看看它是否有用。

    此致、
    Chris
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    TI__Guru**** 2394265 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您的快速回复、

    我尝试过启用 PGA、我的描述简单的范围缩短为7.98 - 8.11mV。   在1200SPS 时、是否有任何可避免的波动？  
    另一方面、我希望看到只有 ads1262的性能才能在信号达到最清晰的程度时测量足够的精度。 我认为、当我测量测试 DAC 时、PCB 和其他条件不是主要影响。 实际上 、我的陀螺仪可以提供相同的信号波动。 您可以看到、分立式 LDO 为数字和模拟端供电、 所有 ADC 电路都是圆角接地、PCB 底部有大量的接地层、模拟和数字信号单独进入芯片、我还会在 PCB 的正面放置一个盖子并焊接到前面。 我认为、这些足以在数据表参数中操作芯片。
    根据数据表、如果我选择1200SPS Sinc4滤波器、内部噪声约为13.4uVpp。 当我测量测试 DAC 时、我是否应该在每个测量周期看到7.98x mV？  
    请您回复。
    BST Rgds、
     
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    TI__Guru**** 2394265 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Celal、

    内部测试 DAC 可能不是确定 ADC 精度或噪声性能的最佳来源。 它的目的更多地是用作快速、粗略的功能测试、而不是精密电压源。 由于测试 DAC 是连接在 AVDD 和 AVSS 电源之间的电阻器串、因此非常容易受到电源噪声的影响。

    对于噪声性能测试、我首先将 ADC 输入短接在一起、因为这是一个与数据表中噪声性能规格相似的测试条件。 为了确保 正确的共模电压、我建议将输入短接至 AINCOM 并启用 VBIAS 电平转换器。 如果在1200SPS 时未看到13.4uVpp 或更低、则在模拟输入短接的情况下、SINC4配置可能会在测量中耦合一些额外的电源或布局噪声。

    在布局方面、它非常适合2层 PCB。 如果有任何需要改进的地方，我建议...

    1)尝试使用更短的布线将电源去耦电容器连接到 ADC (并尽可能避免过孔)。 连接布线越长、去耦滤波器的效率就越低；并且...

    2) 2)作为2层电路板、底层本质上是您的接地层。 尽可能避免接地层上的布线、因为布线会在接地层中形成分裂、进而增加接地层阻抗、并可能导致噪声额外的共模阻抗耦合到信号中。

    如果过孔较大、它们也会形成接地平面分割。 如果您可以稍微减小过孔尺寸或将其留出更多空间、以便接地层能够在过孔之间流动、则建议这样做。

    我希望这对您有所帮助、
    Chris