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器件型号：ADS54J60 主题中讨论的其他器件： ADC12J2700、 LMK04828
大家好、
我们正在从 ADC12J2700迁移到 ADS54J60。 使用 ADC12J2700时、我们可以使用"RDEL"值来调整 SYSREF 输入信号相对于 DEVCLK 的延迟。 此外、ADC12J2700还提供了一个"脏捕获"位、用于指示 SYSREF 上升沿发生在非常接近器件时钟边沿的位置。 通过使用此功能、我们的团队已成功、可靠地找到理想的 RDEL 来采样使用 DEVCLK 复位 LMFC 的 SYSREF。 但是、我看不到这种使用新的 ADS54J60的 RDEL 和脏污捕获检测功能、这将给我们带来一个找到可靠"眼图延迟"的大问题。
使用 ADS54J60是否有类似的功能？
非常感谢您的帮助。
