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[参考译文] ADS4122:串行通信和 LATECY 设置

Guru**** 2386760 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS4122
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/695738/ads4122-serial-communication-and-latecy-setting

器件型号:ADS4122

您好!
请告诉我如何使用串行通信设置方法进行设置

问题1.
SCLK 中找到
'当复位为高电平时、SCLK 不起作用、必须接地。'
它被描述为。
但是、在图5的时序中、SCLK 为"高电平"、而 RESET 为"高电平"。

问题2.
设置的详细信息
我希望对 ADC 进行寄存器控制、这次设置 HI PERF 模式。
在数据表第53页设置数字功能时、如果设置了 DIS 低延迟
尽管已写入、但当 HI perf 模式设置为启用时、
是否最好将 DIS 低延迟设置为启用?

此致
自助餐厅

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    您好、cafain

    关于 Q1。

    当复位保持高电平时、SCLK 没有任何功能。 在图5中、复位短暂脉冲为高电平。 这样做是为了将所有寄存器值复位为默认值。 并复位其他器件逻辑。 一旦复位恢复为逻辑低电平、就可以使用其他串行接口信号、如图5和图104所示。

    关于 Q2。  

    如果要启用 HI perf 模式功能、应首先设置 DIS 低延迟位= 1。

    然后根据施加到 ADC 输入端的信号频率、设置所需的 HI perf 模式设置位。 设置高性能模式1位、以在整个频率范围内实现最佳性能。 对于高于230MHz 的输入信号、还应设置 HI perf 模式2位。

    此致、

    Jim B

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    您好、cafain
    在进一步审查数据表后、我发现无需设置 DIS 低延迟= 1即可使用高性能模式。
    请参阅 ADS4122数据表第8页的"建议运行条件"表、了解有关使用高性能模式的指导。
    此致、
    Jim B
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    Jim B-San 感谢您尽快发表评论。

    另请回答问题1。
    当 RESET=高电平时、SCLK 应该如引脚说明中所示被设定为低电平、
    还是应像图5中所示那样将其设置为高电平?

    此致
    自助餐厅
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    您好、cafain
    有关 SCLK 接地的注意事项仅适用于复位始终连接高电平且未使用串行接口模式的情况。
    如果您可以控制复位引脚、如图5所示、以便在开始使用串行配置接口之前提供一个短暂的脉冲、请使用该方法。
    如果您由于无法发送短复位脉冲而希望始终将 RESET 引脚连接到 GND、则必须使用数据表串行接口部分中讨论的软件复位选项。
    此致、
    Jim B
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    Jim San

    我感谢详细的解释。
    我理解了回答的内容。

    非常感谢。
    此致
    自助餐厅
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    你好、Jim San

    我还想问您一个问题

    我想设置地址25h 和输出测试模式、但测试不输出测试模式。
    什么可以被视为问题(原因)?

    此致

    自助餐厅

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    您好、cafain

    当 DIS 低延迟= 0时、有很多功能被禁用。 其中包括:

    • 增益调整
    • 测试图案
    • 偏移校正

    要使用这些函数中的任何一个、用户应首先将 DIS 低延迟设置为1。 在寄存器地址42h 位3处的 DIS 低延迟控制位的数据表说明中对此进行了讨论。 另请参阅第8.3.1节"数字功能和低延迟模式"。

    此致、

    Jim B

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    大家好、Jim-San

    根据您的回答、我设置了、但我无法确认预期行为。
    请再说一遍。

    我们设置 ADD 42'h 的 Bit3=1和测试模式的预期输出。
    但是、不输出测试图形。
    未知问题是什么、测试 Pattren 将不会输出。

    1。
    是否有办法检查串行通信是否正确写入器件上的数据和地址?

    2.
    即使您进行了读取、也无法检查这种情况、因为您需要写入控制并将位设置为串行读取。

    3.
    DFS 设置为偏移二进制 DDR LVDS。

    4.
    另一项确认、
    如果认为测试 Pattren 将与 CLKP/CLKM 同步输出、是否存在任何问题?

    5.
    高电平复位、SCLK、SDATA、SEN 端子为
    我在3.9V 电压下使用它、但有问题吗?
    AVDD、DRVDD 在1.8V 时使用。

    此致
    自助餐厅

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    您好、cafain

    最新问题的相关信息。

    启用测试模式时、请确认您正在写入以下设置:

    第3位= 1加42'h (DIS 低延迟= 1)

    位2:0 = 100加25'h (输出数字斜坡的测试模式= 100)

    1.尝试将断电控制位 PDN 全局设置为1。 这会将 ADC 功耗降低到非常低的水平、因此您应该会看到电路板的功耗在这种情况下会降低。 LVDS 输出也应达到高阻抗、因此这些输出上的共模电压将不再保持。

    2.尝试1中建议的断电方法。 以确认写入是否正常。 写入不起作用、则需要进行调试以确定问题是否是由信号时序、逻辑电平等引起的

    OVR_SDOUT 引脚将为逻辑高电平提供大约 DRVDD-0.1V 的电压、为逻辑低电平提供大约0.1V 的电压。 当您为 SDOUT 功能启用此引脚时、请确保您的逻辑接收器与这些逻辑电平兼容。

    3.没有意见

    4、如果一切配置正确、测试模式将与输入时钟同步输出。

    5、复位、SCLK、SDATA 和 SEN 上允许的最大绝对电压为3.9V。 在正常运行期间、这些引脚不应被驱动至3.9V。 这些输入被设计成与高达3.3V 的正常逻辑电平一起工作。 请确保这些信号的逻辑低电平符合表7.8中列出的要求。 逻辑低电平必须为0.4V 或更低、以确保器件接收到有效的逻辑0。

    此致、

    Jim B

     

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    大家好、Jim-San

    可以通过控制断电来确认操作、如中的注释1所示。(OK)

    但是、不输出 TEST PATTREN。
    是否有寄存器设置程序?
    还有其他提示吗?

    此致

    自助餐厅

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    大家好、Jim-San

    还可以!

    再次确认的结果
    我能够使用 ADC 的串行接口功能来确认是否出现了测试模式。

    感谢您的详细解释。

    自助餐厅