您好!
我在测试应用中使用 ADS1115 A/D (详细信息如下所述)。 现在、该部件已经出现两次故障、但(到目前为止)我没有发现我以任何方式滥用了该部件。 遗憾的是、我没有确切的信息来说明部件发生故障的时间、但可以安全地假设部件持续运行至少40个小时。
应用条件:
- VDD = 5VDC
- 通过 I2C 总线连接到微控制器。
- 模拟输入的连接方式如下:
- AIN0: 连接至3.3VDC 基准电压
- AIN1: 连接到0.0V 至3.3V 的斜坡形信号、周期非常慢(大约1分钟)。
- AIN2: 被连接至2.5VDC 基准电压。
- AIN3: 连接到模拟信号、从受测器件输出。 0V 至5V。
- 所有测量均为单端测量、无差分测量。
- 连接到 AIN0、AIN2和 AIN4的信号的测量是单次测量、PGA 增益设置为2/3。
- 连接到 AIN1的信号的测量是连续模式测量、PGA 增益设置为1、采样率设置为每秒860次采样(此器件的最大采样率)。
故障模式:
- 器件仍通过 I2C 进行通信并报告 A/D 读数、但 A/D 读数大约减少100-200个计数。 所有四个通道都报告了相同的漂移。
- 设备比正常温度高得多、如所示、太热、无法触摸。 用冷冻喷雾喷雾 IC 会导致 A/D 读数暂时恢复到原来的精度、但会快速升温并再次漂移。
我想知道您是否有任何建议、或者您以前是否看过类似的内容。 您是否预计在以最大采样率持续运行器件时会出现任何问题? 我在 ADS111x 数据表中没有看到任何内容表明这是一个问题。 您可以提供的任何信息或见解都很有帮助。
非常感谢!
此致、
Michael