您好!
我们刚才发现、一个通道上的饱和/满量程信号会影响其他输入通道。 有些显示信号值略有增加、其他甚至有所下降。 此外、在使用对称 CONV 信号时、相同通道的 A 和 B 样本似乎受到的影响不相同。 我在该主题(e2e.ti.com/.../3352393)中发现 使用 ESD 保护二极管和其他一些寄生耦合效应是原因。
我们的应用程序可能会出现这样的情况:一个信道在当时不提供使用/有用的数据、但可能在短时间内处于饱和状态、而其他信道在此时提供必要的数据。 必须确保其他数据不受该数据的影响。
我们仅使用 DDC118的八个输入中的五个输入。 应用中使用的输入为通道(AIN) 1、2、3、4和8。 通道5、6和7未使用并连接到 GND。
现在看起来、例如、通道1饱和、它影响2、3和4、但不影响8;如果通道2饱和、它影响1、3和4、但不影响8;如果通道3饱和、它影响1、2和4、但不影响8; 如果4个通道饱和、那么它会影响1、2和3、但不会影响8;如果8个通道饱和、那么它不会影响其他通道。
输入的这种不同行为是否有解释? 我可以考虑输入保护二极管分组或其他与芯片结构相关的分组。
或者、它可能会受到未使用通道的 GND 连接的影响?
如果您可以确认上述某些情况、或为该不同行为提供另一种解释、这可以帮助我们找到性能最佳的输入通道变化。
我希望我可以将该通道连接起来、有时可能会饱和(此时它位于通道1上)、例如连接到通道1、将其他通道连接到5、6、7和8 (2、3、4连接到 GND)、从而不会对信号产生影响、或者至少尽量降低对信号的影响。
谢谢、此致、
比尔格