大家好、
您能否帮助提供分步指南、帮助客户了解如何使用该器件的寄存器0x08、0x09和0x0A 进行校准?
谢谢!
罗伊
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尊敬的 Roy:
我建议执行以下操作:
例如、假设我们处于0 - 24 mA 输出范围内。 1 LSB 大小为0.3662 uA。 0x1000和0xE000处的理想值是1.5 mA 和22.5 mA。
让我们使用1.45 mA 和22.3 mA 的测量值。 我们需要用0.05 mA 来抵消。 将该值除以 LSB 可得到大约136 LSB、所以我们可以向偏移寄存器写入0x0088。
我们的新失调电压测量值是1.5 mA 和22.35 mA。 将理想值除以测量值可以得出估算的增益。 22.5/22.35 = 1.0067。
增益寄存器中的每个 LSB 约为0.00001526、以0x8000处的 x1为中心。 这样可得出增益寄存器值0x81B7。
如果有任何其他问题或需要进一步澄清、请告诉我!
谢谢。
卢卡斯
您好、Lucas:
感谢您的回复!
零和量程校准不需要任何序列、对吧?
2. 您可以详细说明通过校准跨度意味着什么吗?
关于这个问题:
2. 因此、如果我们仅校准跨度(不 校准零)、而仅校准中间值和跨度、芯片是否能达到千分之一的规格?
是指 达到千分之一规范--> 14位信号范围--> 16384 LSB 电平可被检测吗? 他们想要无论 正或负,都有>10000 LSB ,这是可以实现的?
添加一些问题:
例如、校准0-10V 和校准5-10V 时、应用于 DAC8775时获得的斜率是否会不同?
2.是否可以将相同的斜率应用于双极? 或者是否需要分别校准正值和负值?
3.假设在双极模式下仅校准-10V 和10V、或者仅校准5V 和10V、并获得一条红色线。 如果使用这个斜率来安装 DAC8775、0V 会不会有任何问题?
Br、
凯
大家好、
还有以上问题。 更新我们现在调试的某个问题。
让我整理一下我们在这里遇到的问题。
客户生产了120个、20个失败、但校正了0.01%。
初始加电时、输出0V 无校正。
正常电路板:输出约为0.2~0.4mV
电路板异常:输出75mV
其 FW 团队已针对相应的器件
1.机器需要加热30分钟。
2.最初、固件只校准了量程、现在添加了一个零点校正机制、但是由于0V 的校正不起作用、所以校零变成了75mV 的校正、然后用 数学运算 来找到零点。
3、虽然这种方法可以校准,但整个生产时间变得很长,生产成本增加了很多。
这就是客户问我们上述问题的原因。
此外、TI DAC8775的正常零代码误差偏差为正负2.5mV。 为什么这些芯片中的某些芯片在初始上电时偏差为75mV ?
此外,需要加热和30分钟的部件也很奇怪。
数据表中的 ppm FSR°C 数字非常小。 您能帮助我确认、在校准时、DAC8775是否需要预热吗?
Br、
凯
您好、Lucas:
由于偏移的校准步骤基于 LSB 大小,如果更改比例,您可能需要更新偏移和增益校准值。
您能否将这些流程更新为历史记录中提供的步骤?
[/报价]
- 1)在远离零代码和满量程的位置处测量 DAC 输出(例如0x1000和0xE000)的代码值
- 计算测量点的斜率
- 将这些值和斜率与理想/所需的值和斜率进行比较
- 计算校准增益和失调电压
- 通过写入0x03选择您的通道
- 通过写入0x08来启用校准
- 通过写入0x09来校准增益
- 通过写入0x0A 来校准偏移
以下是附在此处的原理图:e2e.ti.com/.../AMAX_2D00_5024.pdf
Br、
凯
尊敬的 Kai:
由于不同的输出标度在器件内部使用不同/附加电路、因此可能需要更改校准所需的 LSB 量。
我建议您在每次更改刻度时使用所有步骤、以获得最大的准确性。
我可以对在 EVM 上获得的值进行小测试、以查看不同尺度校准值之间的关系。
当您提到部件需要加热30分钟时、客户的加热原因是什么? 它是否有助于解决75mV 问题或其他问题?
我无法立即在原理图中看到任何内容。
我可以验证当客户在启动时在外部重置器件时、PVDD 和 DVDD 是否达到工作电压。
谢谢。
卢卡斯