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[参考译文] AFE5818:AFE5818模型中不可复制的死区

Guru**** 2390735 points
Other Parts Discussed in Thread: AFE5818, AFE5808
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1316677/afe5818-unreproducable-dead-zone-in-afe5818-model

器件型号:AFE5818
主题中讨论的其他器件: AFE5808

"TI 的问题"演示文稿、  

 

在 AFE5818上发送长波脉冲时、我们会遇到一个问题。  

这个问题与 AFE5808同样。  

 
 

在上图中,我们可以看到系统输入端的信号:  

 在蓝色: INP1,在红色: INM1在紫色:两者的差异。  

我们遇到的问题是由于极化偏移在正输入上移动、INM 和 INP 需要时间才能恢复到其初始电平: 在此期间、我们发现死区(无法用于测量)、因为信号通过 LNA、VCAT、PGA 进行放大。 即使  LNA、PGA 和 ADC 中有积分器/HPF、死区内的信号是不可用的。  

在我们的一个设计中、我们决定连接 ACT 引脚、在另一个设计中、ACT 不连接(浮点输入)。   

我们尝试使用 TI 网站上提供的 AFE5808的仿真模型来重现问题、以便测试不同的解决方案   

在通道1上、我们尝试了数据表上建议的版本、   

在通道4上、当我们在其中一个电路板上实施该设计 (我添加了100Meg 电阻来仿真 NC 连接、否则仿真将不起作用)  

 

尝试模拟问题、  

在通道1上:   

 

OnChannel 4 :  

 

该仿真给出了使用和不使用 ACT 电容器没有区别、此外、移动偏置效应也看不到。  

我的仿真中缺少什么吗? 或者、该模型是否不包含该现象? 如果可以、TI 的人员能否解决此问题?  

如果无法解决此问题、可能是您过去遇到过此问题? 是否有关于可能的解决方案的记录?   

此致。  

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    您好!

    似乎您正在应用2Vpp 信号。 该电压很大、会导致 INP 电容器放电、因为 AFE 的输入对为 BJT。 在仿真模型中、未对这种漏电流建模、因此未在仿真中显示。 但这是常见现象。 器件将使用 LNA HPF 响应来校正输入放电。 所以、如果希望实现快速恢复、可以尝试增加 LNA HPF 转折频率。  

    谢谢!

    此致、

    沙比尔

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    您好  和亲切感谢回答我们的帖子。

    我们已经使用 LNA 积分器执行了进一步的测试、并确认了您的看法。 然而、将 Cbypass (15nF)修改为一个较低的值会引起振荡、因此不会减少死区。

    为了帮助我们解决问题、我们希望能够模拟问题并帮助我们了解该现象。 是否有机会 TI 的内部人员能够生产出包含这个死区的新模型?

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    您好!

    对过载条件进行建模很棘手。  

    我还有一个建议。 看看它是否有用:

    -首先使用12dB 的 LNA 增益。 较低的 LNA 增益可支持更高的输入摆幅。

    -您可以设置降低输入钳位电平。 尝试以下两种设置:

    -通过对 LNA_HPF_PROG 寄存器进行编程、使用200kHz LNA HPF 转角频率。

    谢谢!

    此致、

    沙比尔