主题中讨论的其他器件： ADS124S08
我使用的是 TI ADC 器件编号 ADS131M04。 这是使用的 ADC 配置。
时钟频率= 2.048 MHz
模式= VLP
数据速率= 1Ksps
OSR = 1024
通道增益= 8至64 (取决于客户配置)
使用的通道= AIN1、AIN2、AIN3
启用 DC 块滤波器：0101b = 1/64
数据速率= 1Ksps
OSR = 1024
通道增益= 1
使用的通道= AIN0
直流阻断滤波器禁用：
通道 AIN1、AIN2、AIN3我将使用截止频率为~820Hz 的抗混叠滤波器(三阶 Sallen Key 滤波器低通滤波器)
通道 AN0我正在使用截止频率~1.7KHz 的抗混叠滤波器(无源 RC 一阶低通滤波器)。
现在我所面临的问题是在 ESD (外壳上的接触6kV)、EFT (5kHz、15ms 突发)和 FDOW (3MHz 50ms 突发、10MHz 15ms 突发、30MHz 5ms 突发)期间。
EFT 和 FDOW 是共模噪声,应用于外部连接器电缆,该电缆在 AIN0线路上具有内部至 PCB 的电流互感器。
施加在此 ANI0线路上的 EFT、FDOW 抗扰度测试信号会影响抗扰度测试期间 AIN1、AIN2和 AIN3上的正常信号测量。
在 ESD 接触放电测试时也观察到类似情况。
我是否必须深入了解 ADC IC 才能调试该问题？
PS：我具有隔离式预处理电路(衰减+滤波器)、并且在抗扰度测试期间短接 AIN1、AIN2、AIN3、理想情况下我读数为0V、但在 AIN0相关通道上执行抗扰度测试或施加 ESD 时、我会看到0V AIN1、AIN2、AIN3受到干扰。 进行此测试的目的是为了确保预处理电路是否引起此处的故障、但看起来预处理电路稳定并且怀疑 ADC IC 有问题？
