大家好。 我担心模拟输入引脚分类顺序、例如 IN1至 IN64。 我将使用 DDC264设计线性检测器。 在与另一个 ADC 制造商的情况下、根据模拟输入引脚之间的串扰、我遇到了问题。 它是由芯片内的相互作用引起的。 然后我需要处理引脚名称和 光电二极管顺序。 如果 DDC264也可以在内部的模拟输入引脚之间进行交互、那么是否应该将 IN1与 In64以及线性检测器的光电二极管阶数相匹配以便拍摄更好的图像?
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大家好。 我担心模拟输入引脚分类顺序、例如 IN1至 IN64。 我将使用 DDC264设计线性检测器。 在与另一个 ADC 制造商的情况下、根据模拟输入引脚之间的串扰、我遇到了问题。 它是由芯片内的相互作用引起的。 然后我需要处理引脚名称和 光电二极管顺序。 如果 DDC264也可以在内部的模拟输入引脚之间进行交互、那么是否应该将 IN1与 In64以及线性检测器的光电二极管阶数相匹配以便拍摄更好的图像?
尊敬的 Yoshinobu:
完全正确。 我就是这么做的。 唯一的缺点是、如果您使用一个空白的 AIB (模拟输入板、我们提供的带有256 10 Ω 电阻器的电路板、但没有电阻器)、而只是移动(焊接/未焊接)一个10 Ω 电阻器、一次一个通道、同时测量所有其他通道、可能会更好。 64次这样做有点痛苦……
...所以可能更简单的方法是不使用的 AIB 板,并使用一个通孔电阻器(不是 SMD)和直接插/拔它在连接器引脚上,以避免焊接/拆焊。
此致、
爱德华
多