[参考译文] DAC53204：关于 IOUT 容差(最小值/最大值)

尊敬的  Makino-San：

在 IOUT 模式下、以下规格影响器件的总精度：

您可以使用这些来估算一个总体未调误差、此总体未调误差将为最坏情况误差提供一个非常保守的估算值。 TUE 通过 INL 的 RSS、增益误差和偏移误差计算得出。 我无法分享绝对最小/最大精度规格、因为这不是该器件的表征参数、但 TUE 将给出保守估计。  

此致！
K·琼斯

尊敬的 Jones-San：

非常感谢您的友好回复。

我希望您回答以下其他问题。
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可以用 TUE 来估算 DAC 输出的最差容差吗？
2.在图6-38中，我认为 IOUT 模式下最差的 TUE 大约是-0.3%~+0.4%。
  因此、IOUT 模式的最差容差是否约为-0.3%~+0.4%？
3.即使器件存在差异, IOUT 模式的最差容差是否约为-0.3%~+0.4%?
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如果您能回答、我将不胜感激。

此致、
牧野弘康

尊敬的  Makino-San：

1.是的, TUE 是最好的估计。 替代方案是将每个规格的最坏情况误差相加、但由于这些规格是不相关的、因此相加误差会比在器件中看到的情况更糟。  

2。典型图显示了一个器件测量的数据。 此图有助于显示一个器件的 TUE 随温度的变化、这肯定有助于了解 TUE 会随温度波动的大小。

3.如上一节所述、使用 RSS 计算 TUE 可得出~±1.6%的误差(增益误差是最大的贡献因素)。 如果将其作为最坏的情况、随着温度范围内的误差可能增加±0.4%、您可以估算出温度范围内最坏情况下的误差为±2%。 话虽如此、大多数器件可能会具有更接近6-38中图的 TUE。  

此致！

卡琳恩

尊敬的  Makino-San：

I 通过 sqrt 计算了 TUE (INL^2 + GE^2 + OE^2)。 您需要 FSR 首先将 INL 转换为%INL、结果为1LSB/2^8 = 0.39%。 TUE = sqrt (0.39^2 + 1^2 + 1.3^2)= 1.68%。

INL 是最小值/最大值规格、因此这已经包括了温度变化、但这对整体 TUE 的影响非常小、因此这不会使器件之间的 TUE 产生太大的影响。  

此致！

卡琳恩