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[参考译文] DAC3283EVM-SW:IO 模式校验器不工作

Guru**** 1555210 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1374364/dac3283evm-sw-io-pattern-checker-not-working

器件型号:DAC3283EVM-SW

工具与软件:

您好!

我们正在尝试 通过 IO 模式校验器测试数据。 如果我们将寄存器和 FPGA 中的所有数据保持为"0"、 IO 测试结果显示无错误。  

但是、如果我们将 pattern0处的数据保留为"FF"、其余图案值为"0"、如下所示:

我们将来自 FPGA 的"FF"数据值保持在帧时钟的上升沿、并将数据其余为"0"、如下所示:

因此、我们期望 IO 测试结果通过。 但它在 IO 结果中显示所有位为高电平意味着所有位都有错误。 这可能是什么原因呢?