[参考译文] AFE11612-SEP：单粒子功能中断(SEFI)特征

您好、Alex、

我已请辐射测试负责人 提供有关 SEFI 测试的更多信息。 我会让你知道他们说什么。

谢谢！
Erin

您好、Erin、

感谢您提供这些信息。 我意识到我的问题实际上是一个二合一的问题：

1.) AFE11612有哪些 SEFI 场景、我们如何 在考虑这一点的情况下实现该器件？
2.) SEE 对 DAC 输出的潜在影响是什么？

我想您 已经回答了我的第二个问题。 我实际上不知道 SETI 测试是什么、我猜这是单粒子瞬变效应测试？ 我对大家的反应解读是、在 DAC 输出端包含低通 RC 滤波器可防止瞬变耦合到系统的其他部分。 在我的实现方案中、DAC 输出用于驱动带宽受限的高压放大器、因此2us 的瞬态太快、不会导致放大器输出发生有意义的变化。 我刚刚在仿真中验证了这一点。

我想我的第一个问题仍然没有得到答复。 我主要对实现 AFE11612-SEP 固件驱动程序的方法中的 SEFI 特征感兴趣。

如果这有道理、请告诉我、


- Alex

您好、Alex、

Erin 现在正在对此进行审查、并将很快做出回应。  

此致！

Katlynne Jones

您好、Erin、

感谢您分享摘要、它有助于解释 SET 效应、并使我们能够设计出更好的 AFE11612-SEP 实现。

我仍然对 AFE11612-SEP 数据表首页中指定的术语"单粒子功能中断(SEFI)对于 LET 的额定值高达43 MeV-cm2/mg"感到困惑。 摘要简要提到了寄存器翻转导致的电流消耗增加："看到的电源电流偏移是器件发生寄存器翻转导致器件配置发生变化所致、如图3和4所示。"  接下来的一句话是："将器件重新配置为原始寄存器设置后、电源电流恢复到远光电平。"


我尝试了解的内容有两个方面：

1.) 我们是否需要  由于 SEFI/SEUS 而持续检查并复位 AFE11612配置以确保 DAC 输出不会与设定值发生变化？
2.) 如果器件确实发生 SEFI/SEU 事件、需要执行哪些恢复操作？ a.)重新写入/重新配置器件寄存器？ b.)通过 nRESET 引脚复位器件、然后重新写入/重新配置寄存器？ 或 C.)重启器件、然后重新写入/重新配置寄存器。

我们的应用包括将 DAC 信号馈 送到低带宽功率放大器中、用于驱动机械传动器和精确定位光学组件。 由于 SEE 对这些光学器件的驱动影响、应用无法承受对这些光学器件的物理变化。

从摘要中得出的结论是、如果 DAC 寄存器发生翻转、我们应该经常将其重写为正确值。 我们还应该在 DAC 输出中添加一个低通滤波器、以帮助减轻耦合到放大器中的快速 DAC 干扰。 这听起来是否合理、或者我们是否应该寻找另一个在 DAC 输出上不易受到毛刺脉冲影响的器件？

感谢您的帮助、


- Alex

您好、Alex、

尝试向您提供这些信息。 我不是100%肯定这一点,但我的假设是:
1) 1)是的、您需要持续检查这些事件
2) 2)我认为您只需要重新写入寄存器、不需要任何复位。

谢谢！
Erin