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工具与软件:
尊敬的 TI 工程师:
由于噪声性能要求、我们正在考虑在我们的 EEG 医疗设备中使用 ADS1299、并从 ADS1294进行转换。 在准备该变更时、对于整合了 ADS1299的器件的校准和长期维护、我们有几个问题。
1.使用导联脱落检测进行阻抗测量
1.1使用阻抗测量进行校准:
导联脱落检测功能(用于测量电极阻抗)是否可用于校准目的?
1.2长期退化的影响:
(a)长期性能下降或老化是否会影响阻抗测量的精度?
(b)如果是、信号会在多大程度上随时间的推移而受到影响?
(c)这些更改可能如何影响阻抗测量的整体精度?
2. Vref 稳定性
2.1影响 Vref 的因素:
ADS1299数据表规定 Vref 的精度为±0.2%、温漂为35ppm/°C 是否还有其他因素(例如长期老化)可能影响 Vref 精度?
2.2长期退化的影响:
(a) Vref 的精度会因长期性能下降或老化而降低多少?
(b)这种降级是否会导致噪声增加?
3.测量噪声
3.1噪声随时间的变化:
(a) ADS1299的噪声性能如何随 ADS1299的长期使用和降级而变化?
我们特别想了解这些因素会如何影响我们医疗设备的长期可靠性和性能。 非常感谢您提供有关基于 ADS1299的器件长期校准和维护的任何其他信息或建议。
此致、
Inoue-San、您好!
感谢您发帖。
内部导联脱落电流源容差仅规定为±20%。 这可能不足以用作校准源。
有关长期可靠性数据、您可以参阅质量、可靠性和封装信息页面:
https://www.ti.com/quality-reliability-packaging-download/report?opn=ADS1299IPAG
一般而言、ADC 基准电压的长期漂移将表现为 ADC 传递函数中的增益误差项。
请问您为何对这种长期的降级规格感兴趣? 这将如何影响您的应用?
此致、
Ryan
尊敬的安德鲁斯先生:
感谢您的答复。
由于我们的产品具有5年的使用寿命、我担心在此期间额定的噪声是否会超过±3μVp μ V-p、以及长期运行会对 Vref 产生多大的影响。 此外、我对使用测试信号执行振幅精度验证感兴趣。 您能告诉我测试信号的准确性吗?
感谢您的帮助。
此致、
Inoue-San、您好!
测试信号精度的额定值为±2%(典型值)。
此致、
Ryan
尊敬的安德鲁斯先生:
感谢您的答复。
我还有一个关于您参考的质量、可靠性和封装信息页面(www.ti.com/.../report)的问题。 对于制造工艺可靠性数据和"认证摘要"中的 HTOL、通过结果是否表明产品在测试后符合规格? 此外、我认为这是加速测试;您能否提供有关此测试的等效假设年数的信息?
感谢您的帮助。
此致、
Inoue、您好!
是的、HTOL 是一种在高温下进行1000小时加速产品应力测试、旨在加速元件老化。 等效运行年数的确切数字取决于分配的加速因子。 因此无法提供确切的信息。
此致、
Ryan