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[参考译文] ADC3669EVM:数据损坏- ADC3669EVM

Guru**** 2027820 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC3669EVM
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1464738/adc3669evm-data-corruption---adc3669evm

器件型号:ADC3669EVM

工具与软件:

您好!

我在使用 ADC3669EVM 开发套件时遇到问题。 下面、我将介绍这个问题。

ADC3669EVM 套件在 Agilex 7平台- AGIB027R31B1E1VB 上运行。 该器件连接到 FMC B、采样时钟设置为400 MHz。

我遇到的第一个问题如下:2024年12月购买的器件标记为 REV。 丝印层上的 IR 电阻 b。 但是、在线提供的文档(原理图)与版本 C - REV 相对应。 c.

文档说明未焊接元件 R125。 该引脚被拉至 GND、用于检测该模块是否连接到 FMC。 修订版 b、此类指定不存在。 通过从 FMC 跟踪引脚、我发现它与 R188相对应。 假设该问题已经解决。

下一个问题更为严重、即某些数据位上的数据损坏。

我将 ADC 测试图形配置为斜升。 在 FPGA 端、我在上升沿和下降沿收集数据、并观察到以下效果:一些位会移位。








FPGA 设计是时序一致的、因此问题可能不存在。 在 FPGA 方面、我尝试了移动 CLK 相位。 结果是某些位的对齐情况有所改善、但其他位的对齐情况更糟。

我还尝试了对 FPGA 的各个线路应用延迟。 虽然这部分改善了情况、但没有完全解决问题。

您能帮助解决这个问题吗?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Robert:

    请确认您是否正在执行某种形式的 IO 校准、以便满足400MHz (800Mbps)的时序要求。 您的数据损坏问题似乎表明某些通道存在一些差异、这取决于采集架构。 这可在 IO 校准期间发生(前提是每个数据通道独立调优、通道正确且通道发生了位偏差)。 此外、如果使用 SERDES 实例、则所有通道的 SERDES 复位应同步置为无效(否则解串行化计数器可能不同步)。  

    如果既未执行上述两项操作、又仅使用 IDDR 元素(可能在 SONE_EDGE 模式下)、则它似乎确实会指向一个时序问题。 如果降低时钟速率、问题是否会得到纠正?

    此致、

    阿米特