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器件型号：DLP4710LC Thread 中讨论的其他器件：DLP3010、 DLPA3005、DLPC3479、 DLP4710、DLP3010LC
工具/软件：
尊敬的 TI 工程师：
跟进我之前的案例：根据当地 FAE 农历新年后的指导实施硬件优化后、
我们成功降低了 DMD 缺陷率（主要是 BBF 垂直线和亮点）。
虽然像素不稳定性等残留问题仍在通过提交的缺陷器件进行分析、但我认为先前的案例已解决。
新技术问题：DMD 微镜粘结现象
我们现在观察到 A 现场故障模式 指定 3D 扫描/光控制应用 、总结如下：
故障特性：
- 静态微镜图案 仍然出现在 DMD 玻璃表面上、与投影的工作图像（线条图案）相似。
- 保留部分功能 ：
- 驱动器板成功识别 DMD（有效 ID 回读）。
- 传输控制命令（例如模式切换）、但是 微镜无法机械翻转 。
- 驱动器板经验证 :与其他 DMD 正常工作,确认电路板的完整性。
受影响的单位（案例详细信息）：
- DLP3010（客户 A–生产线）：
- 操作持续时间 ：1.5 年。
- 触发周期 ：3–5 秒间隔； 暴露 ：~1 秒/图像集。
- 光学参数 ：460nm 蓝色 LED @ 8A（高辐照度）、但 DMD 温度控制 （轻负荷热负荷）。
- DLP4710LC（客户 B–实验室原型）：
- 操作持续时间 ：8 个月（低使用频率；手动触发）。
- 暴露 ：~400 ms/image set； 460nm 蓝色 LED @~1A; 大型 DMD 散热器 。
附件：
- 图 1：DLP3010 DMD 故障模式。
- 图 2：DLP4710LC DMD 故障模式+批处理信息。
根本原因假设和消除
考虑的主要故障机制：
- 微镜复位未完成 突然的功率损耗而导致。
- 机械/电气锁 免受外部干扰（例如，电击，EMI）的影响。
- 内部 DMD 电路故障 （例如微镜驱动器 IC 劣化）。
评估的外部影响因素：
- A. 关键信号/电源中断（FPC 断裂，接头断开）。 →μ s 已消除 :机械检查确认完整性。
- DLP4710LC 使用直接 FPC 连接（无适配器）；
- b. 极端环境应力（温度/振动）。 →μ s 已消除 :记录稳定的实验室/生产条件。
- c. 瞬态噪声注入（传导/辐射）。 →μ s 待分析
- D. 长时间高功率暴露会导致 DMD 下降。 →μ s 可能性低 ：
- DLP3010：高辐照度但占空比低；DLP4710LC：低光功耗。
- e. 其他因素。
关键观察结果和 BBF 相关性裁定
- 不包括 BBF ：
- 人为破坏引起的 LS 信号（例如接地/脉冲注入） 完全 DMD 故障 （无响应+可见 BBF ID 模式）、与当前静态模式行为不同。
- 已验证 DLPA3005 欠压保护 ：
- 驱动器板可确保在断电期间 DMD 在<100ms 内复位。
- 模拟电源中断 仅导致的 BBF 故障 、不是微镜卡滞。
技术支持请求
- 失效分析 ：
- 研究静态微镜图案（非 BBF，非机械）的根本原因。
- 缓解指南 ：
- 设计/工艺建议、以防止再次发生（例如 EMI 硬化，电源时序控制）。
您的见解对于解决这一现场可靠性问题至关重要。 感谢您的及时关注。
此致。
