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[参考译文] DLP3010:适用于工业 3D 摄像头中 DMD 微镜残留的紧急技术支持请求

Guru**** 2439710 points
Other Parts Discussed in Thread: DLP3010, DLP3010LC

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1547870/dlp3010-urgent-technical-support-request-for-dmd-micromirror-sticking-in-industrial-3d-cameras

器件型号:DLP3010


工具/软件:

尊敬的 TI 团队:

我们最近观察到异常  微镜卡在固定角度  在客户 A 的工业 3D 摄像头应用中、配备 DMD (DLP3010) 的多个光学引擎中。

此问题严重影响了客户 A 的客户(客户 B)的产品检验线。 以下是问题背景和支持请求。 我们恳请您在分析和技术指导方面提供帮助!

一、问题描述

  1. 现象:

    • DMD 微镜卡在固定角度且无法倾斜 (±12°)、从而导致投影故障。 请参阅下面的故障图像(两个示例)

    • 在 DMD 上未观察到外部损坏(玻璃完好无损,消除了湿气侵入)。

    • 主机控制器可以通过正常 LVDS/LS 通信来识别 DMD ID 信号(排除主板 DMD 电路损坏)。

    • 客户 B 的环境:  汽车零件检测线。

  2. 时间分布和模型相关性:

    • 主要影响传统 DMD 模型 ( DLP3010 )。 新型号 ( DLP3010LC ) 没有异常现象(1 年前采用的 LC 型号)。

    • 故障率:~10%、主要发生在其中  1–3 年  条件。

  3. 客户 B 的运行条件和环境:

    • 安装在上的 3D 摄像头  6 轴工业机械臂  (振动+强 EMI 环境)。 请参阅下图:

    • 光学引擎工作负载:

      • LED 曝光:每 100 秒周期 4–5 秒 ( 5%占空比 )。

      • 全天候连续运行 、高亮度光源。

II。初步分析和假设
根据目前的调查结果、我们怀疑以下根本原因:

  1. 材料老化和寿命限制:

    • 高强度连续操作导致局部过热、从而加速 DMD 材料疲劳。

    • DMD 工艺差异(DLP3010:消费者级设计;DLP3010LC:工业优化;TI 未披露工艺/寿命数据)。

  2. 环境因素:

    • EMI/EMC 引起的微镜驱动电路的部分击穿。

    • 机械振动(机器人运动,低加速度)、导致焊点疲劳或微镜阵列错位。

    • DMD /电源输入中的潜在瞬态浪涌。

  3. 热设计不足:

    • 原始 DMD 热设计未针对工业高负载场景进行优化。

    • 客户 B 的用法:  带光控制的内部图形。 在几百个周期内:

      • LED 曝光:5S;非曝光:95S→  5%占空比

      • 估算的平均 TP1 温度≤55°C、但  短期高光通量

  4. 待机模式功能查询:
    在测试过程中、我们观察到当切换到时  待机模式  (在“工作模式设置“下)、  所有 DMD 微镜都锁定在+12°或–12°上  (单个固定倾斜状态)。

    不过:

    •  预期用途  我们仍然不清楚这种模式。

    • 特性  目前未实施  轻松完成这一过程。

    • 关键问题:  可能会利用待机模式  减小微镜着陆占空比  在非暴露期内?

三、请求的支助
为了确定根本原因并实施改进、我们要求:

  1. 消费级 DMD 故障数据:

    • FMEA、故障案例研究以及 DLP3010 的纠正措施。

    • 高温/湿度/亮度条件下的故障图像/测试数据。

    • 关键问题:  消费类 DMD 故障是否与我们的工业微镜卡滞问题相匹配(请参阅随附的内容)? 如果是、工业环境是否可以加快消费者 DMD 老化?

  2. 工业级 DMD 可靠性数据:

    • DLP3010LC 的加速老化测试数据(高温/湿度/振动条件下的 MTBF 模型)。

    • 工业 DMD 的寿命模型或随时间变化的故障概率曲线。

  3. 验证方法和技术建议:

    • 推荐的测试:加速老化、热成像、EMC、振动疲劳。

IV。紧急性
客户 A 的 3D 摄像头部署在汽车生产线上。 微镜故障直接影响检查效率和客户信任度。

我们迫切需要您的分析。  如果需要其他数据(例如失败的 DMD 样本,测试日志)、请告知或通过电子邮件联系。

我们期待与 TI 合作解决该问题并解决 DMD 在工业应用中的可靠性难题。 感谢您的支持!