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[参考译文] DLP2010NIR:工厂参考扫描

Other Parts Discussed in Thread: DLP2010NIR
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1129333/dlp2010nir-factory-reference-scan

器件型号:DLP2010NIR

大家好、

美好的一天! 请在下面帮助我们解决客户的问题。

我们想知道是否可以进行出厂参考扫描。  我们拥有 DLP NIRscan Nano (DLP2010NIR)。 它附带存储的参考数据。
模型是使用使用此数据作为参考(NIRscan Nano GUI 软件的出厂选项)采集的光谱构建的。

最近,一名工作用户用频谱反射材料的频谱替换了存储的参考数据(在 NIRscan Nano GUI 中替换了参考校准部分)。

问题是以前构建的模型无法与使用此新参考数据所需的光谱正常工作。 那么、我们想知道是否可以恢复以前存储在设备中的参考数据(出厂时)?

提前感谢您的支持。  

此致、

Jonathan

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jonathan、

    欢迎访问 E2E 论坛,感谢您关注 DLPRegistered技术!

    请允许我们在下周之前回复您。

    此致、

    奥斯汀

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    你好 Jonathan、

    EEPROM 中始终存在出厂参考扫描、并使用"Factory (出厂)"选项进行选择。 每当使用 GUI 中的"New"选项创建新基准时、它只会将基准数据存储在 PC 中的本地。 因此、您始终可以通过选择"Factory (出厂)"选项恢复出厂参考。

    供参考:您始终可以通过比较 csv 扫描数据来验证参考、并知道为该特定扫描选择了哪个参考。

    此致、

    Akhil