[参考译文] DLP160CP：测量 DLP 中每个镜片正常运行的方法。

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Other Parts Discussed in Thread: DLPA2005, DLPC3421, DLP160CP, DLPA2000

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1205301/dlp160cp-way-to-measure-the-normal-operation-of-each-mirror-in-dlp

器件型号：DLP160CP
主题中讨论的其他器件：DLPC3421、 DLPA2000、DLPA2005

我写信询问一下如何测量 DLP 中每个镜片的正常运行。

如您所知、有一些独特的故障机制经过调查、例如铰链疲劳、铰链存储器、粘滞等。

因此、测量倾斜角或查找不起作用的后视镜的数量至关重要。

但我一直难以找到测量 DLP 中每个镜片倾斜角的具体方法。

您能否提供有关倾斜角测量的信息、或者您是否知道如何测试每个镜片是否正常工作？

另外、我想知道是否有方法可以在操作 DLP 时确定镜片是否能与投影图像正确配合使用。

感谢您花时间关注此事。

我期待很快收到您的回复。

1 年多前

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 1624225 points

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你好，泰旭，

欢迎访问 DLP 论坛、谢谢您对 DLP 技术感兴趣。

DMD 中的镜片只有可操作的 WO 状态：打开或关闭。如果某个镜片出现故障、它将是明亮的像素或黑暗的像素。无需测量倾斜角。

您可以使用随附控制器 DLPC3421支持的内部测试模式来显示和检查是否存在任何故障。有关内部测试模式的详细信息、请参阅 DLPC3421程序员指南。

DLPC3421软件编程人员指南(修订版 A)(TI.com)

此致、

Vivek

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 1624225 points

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尊敬的 Vivek

感谢您的回答、我知道如何在不测量倾斜角度的情况下检查后视镜。

但我遇到了有关 DLP 芯片测量的问题

1) 1)是否有办法在不使用控制器的情况下测试 DLP 芯片或镜片？

2)是否有办法测试仅使用光源引擎的 DLP 芯片(LED 芯片+ LED 控制器)

3) 3)在生产和交付 DLP 芯片之前执行哪种测试？

4) 4)如果收到 DLP160CP 的 EVM 板、要测试芯片、能否用 EVM 替换新的 DLP160CP 芯片？

5) 5) DLP160CP 数据表中的绝对最大额定值

-露点是什么意思81度?

- 为什么工作温度/非工作温度低至90度?

此致、

金泰昱

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 1624225 points

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你好，泰旭，

1)是否有办法测试不带控制器的 DLP 芯片或镜像？

测试 DMD 需要完整的芯片组、其中包括 DLCP3421控制器和电源管理 IC (DLPA2000或 DLPA2005)。

2)是否可以只使用光源引擎测试 DLP 芯片(LED 芯片+ LED 控制器)

您需要由芯片组组成的电子驱动器。

3)在生产和交付 DLP 芯片之前执行了哪种测试？

生产测试确认 DMD 符合 DMD 数据表(第6节)中列出的电气图像质量规格。

DLP160CP 0.16 nHD DMD 数据表(修订版 B)(TI.com)

4)如果我收到 DLP160CP 的 EVM 板、要测试芯片、我可以用 EVM 替换新的 DLP160CP 芯片吗？

通常、EVM 中使用的光学引擎需安装有安全密封的 DMD。更换 DMD 可能非常耗时、硬件可能无法承受频繁的更换。

您能否详细介绍一下您需要测试每个 DMD 的原因以及测试对象？

DLP160CP 数据表中的绝对最大额定值

   -露点是什么意思81度?

   - 为什么工作温度/非工作温度低至90度?
[/报价]
建议的工作露点为24oC。它是时间加权平均露点。露点的绝对最大额定值意味着在任何时间(工作或贮存)露点都不应超过81oC、否则可能会对器件造成永久损坏。

与传统半导体不同、DMD 是 MEM 器件。它  专为消费类应用而设计。

此致、

Vivek

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 1624225 points

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感谢您的回复。

Vivek 说道：

您能否详细介绍一下您需要测试每个 DMD 的原因以及测试对象？

我想看看芯片在180摄氏度下加热1分钟后是否工作良好。

同时也想知道为什么120度以上的贮存温度会对芯片产生负面影响。

(我知道铰链内存易受温度影响。)

此致、

金泰昱

0 admin 1 年多前

TI__Guru**** 1624225 points

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我们尚未对上述情况下的设备进行测试(加热至180C )。我们没有任何数据可回答此问题。

存在多种故障机制、包括铰链存储和潮湿。器件可能因多种原因而失败。

此致、

Vivek

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