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[参考译文] DLPA2005:EMI 相关问题:焊盘图案、

Guru**** 1629050 points
Other Parts Discussed in Thread: DLPA2005, DLPC3478, DLPC3438, DLPC3470
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1260193/dlpa2005-emi-related-questions-land-patterns

器件型号:DLPA2005
主题中讨论的其他器件: DLPC3478DLPC3438DLPC3470

您好!

我们已测试 使用 DLPA2005的定制 DLP 控制器板。

在  EMI 暗室中进行 EMI 辐射预测试期间、我们发现  在 330 MHz 附近观察到一个超出建议限值的问题。

由于只有在打开投影仪时才会发生这种情况、因此我们可以得出结论认为这与投影仪相关的 IC、图形等相关: 例如 DLPC3478、DLPA2005

虽然我们能够通过适当屏蔽外壳来轻松解决问题、但 现在我们正在 优化电路设计、从而更好地提高 EMI 特性。

在 查看 IC 手册时、我们发现了一些有趣的部分:

DLPA2005数据表链接如下所示:

https://www.ti.com/lit/ds/symlink/dlpa2005.pdf?ts = 1692140216596

1.过孔样式(P54)

"根据应用可选通孔、请参阅器件数据表。 如果实施了任何通孔、请参见此视图中所示的通孔位置。 建议对焊锡膏下方的通孔进行填充、堵塞或包覆。"

我能不能问为什么要为这些过孔提供特定的栅格布局? 我认为其中肯定有原因、但 数据表中没有明确说明。

请注意、 评估板也 严格遵循此指南。

如果我们不遵循该指南、会发生什么情况?

2.布局指南(P44)  

P44有一些指南、页面上特别强调了该指南的重要性、 即如果做法不当、EMI 会出现问题。

我们希望缩小部件范围、在近场探头测试期间、 我们发现、DMD FPCB、LED 电缆和 DLPC3478器件上的辐射更大、而不是来自 DLPA2005附近的区域。

这是否正常?

与使用 DLPC3478和 DLPA2005的定制设计板相关的 EMI 通用指南

是否有任何其他材料与特定器件的 EMI 防护设计相关?  

(DLPC347x、DLPA2005等)

谢谢。

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    您好、用户:

    团队会认真研究您的问题并与您联系。

    此致、

    约翰

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    您好!

    感谢您的支持。

    请问您是否有与此问题相关的更新?

    我们的团队一直在等待员工的回答、我们可以应用您团队的建议。

    问题与在使用 DLPC347x 和 DLPA2005产品时如何处理 EMI 问题有关。  

    请删除任何可能 有用的消息。

    金启圭

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    您好、Kim、

    感谢您的耐心。

    [报价 userid="502850" url="~/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/1260193/dlpa2005-emi-related-questions-land-patterns ]"Vias 是可选的、具体取决于应用、请参阅器件数据表。 如果实施了任何通孔、请参见此视图中所示的通孔位置。 建议填充、堵塞或包覆焊锡膏下方的通孔。"
    如果我们不遵循该准则会发生什么情况?

    焊锡膏下方的过孔需要插入/填充、否则焊料可能会进入过孔并导致短路。

    有一些关于 P44的指导方针,在页面上,它特别强调了该指导方针的重要性 ,即如果做法做得不好,在 EMI 中就会出现问题。

    它指的是开关电源导致的 EMI。

    我们希望缩小部件范围、在近场探头测试期间、 我们发现、DMD FPCB、LED 电缆和 DLPC3478器件上的辐射更大、而不是来自 DLPA2005附近的区域。

    这是否正常?

    [/报价]

    您的观察结果是正确的、最常见的 EMI 来源是高频信号、例如控制器和 DMD 之间通过柔性电缆的 HS 总线、通过 DLPC3438的并行端口输入数据信号。

    通常、我们还没有看到导致 EMI 问题的 LED 电缆。

    与使用 DLPC3478和 DLPA2005的定制设计板相关的 EMI 通用指南

    是否有任何其他材料与特定器件的 EMI 防护设计相关?  

    (DLPC347x、DLPA2005等)

    [/报价]

    您可能需要查看系统上的其他 IO 设备。

    此致、

    维韦克

    [/quote]
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    感谢 Vivek Thakur、

    1.您能检查一下我的其他问题吗?

    -我能问一下为这些通路提供具体网格模式的原因吗? 如果我们不遵循该指南、会发生什么情况?

    "您可能希望查看系统上的其他 IO 设备。" 我的问题是、

    - EMI 通用指南:与使用 DLPC3478和 DLPA2005的定制设计板相关

    2.是否有其他材料与特定器件的 EMI 防护设计有关?

    我们开发的定制板在投影仪关闭时产生的 EMI 很低、因此我们认为 EMI 问题仅与与 DLP 相关的 IC 有关。 您能否提供一些 TI 材料或页面或我们在实施定制板时可以参考的其他材料或页面、以便我们从 EMI 的角度进行更好的设计?

    3.还有一个问题、关于 EMI 问题、根据 DLPC3470的手册、推荐的磁珠在100 MHz 处的阻抗应为600 Ω、但在参考设计(https://www.ti.com/tool/DLP3010EVM-LC)中、仅使用80 Ω 的磁珠(BLM15PD800SN1D)。 考虑到该磁珠连接到公共接地、您是否认为使用在100 MHz 处具有600欧姆阻抗的推荐磁珠更改该磁珠可以帮助改善 EMI 特性? (因为电流 EMI 在高频时产生更多噪声)

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    尊敬的 Kei:

    感谢您的提问。 我们仍在研究它们、并将在本周结束时与您联系。 感谢您的耐心等待。

    此致!

    麦克斯因

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    尊敬的 Maxine:

    谢谢。 检查是否有 任何更新(我认为已经超过一周了)

    此致、

    金启圭

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kei:

    感谢您的耐心。

    我能不能问为什么要为这些通孔提供特定的网格模式? 如果我们不遵循该指南,会发生什么情况?

    没有理由 使用特定的网格阵列,您可以使用任何阵列。  我们相信 VIAS 可为接地层提供良好的热连接。 这有助于散热。

    是否有任何其他材料与特定器件的 EMI 防护设计相关?

    我们开发的定制板在投影仪关闭时产生的 EMI 很低、因此我们认为 EMI 问题仅与与 DLP 相关的 IC 有关。 您能否提供一些 TI 材料或页面或我们在实施定制板时可以参考的其他材料或页面、以便我们从 EMI 的角度进行更好的设计?

    [/报价]

    我们没有任何用于抗 EMI 设计的其他信息或材料。   但不会测试 EVM 的 EMI。

    3. 另外、关于 EMI 问题、根据 DLPC3470的手册、建议的磁珠在100 MHz 处的阻抗应为600 Ω、但在参考设计(https://www.ti.com/tool/DLP3010EVM-LC)中、仅使用80 Ω 磁珠(BLM15PD800SN1D)。 考虑到该磁珠连接到公共接地、您是否认为使用在100 MHz 处具有600欧姆阻抗的推荐磁珠更改该磁珠可以帮助改善 EMI 特性? (因为当前的 EMI 在高频时产生更多噪声)[/quot]

    磁珠用于滤除内部 PLL 时钟电源中的噪声。  将磁珠更改为建议值将提高 PLL 的功耗。 我无法评论 EMI。 如前所述、我们不会测试 EVM 的 EMI。

    此致、

    维韦克

    [/quote]