[参考译文] AM26C31：TI 是否可以提供旧器件(AM26C31ID、AM26C31IDG4、AM26C31IDRG4)和新芯片器件(AM26C31IDR)的输出阻抗详细信息？

还需要您的支持、以了解这两款器件的生产日期代码和组装地点 AM26C311LDRG4 和 AM26C31LDR 。

帮助我们指导如何从您的 TI 站点获取这些信息、以供将来参考。

因此、我们可以得出结论：在 PCN 实施： 20240328001.1之后、它是否受到了影响

当 PCN 说函数尚未改变时、这意味着所有有保证的数据表参数保持不变。  数据表可保证使用100 Ω 负载时、差分输出电压至少为2V

无论如何、您的测试如何测量占空比？ 在捕获的波形中、占空比看起来正常。 您是否具有失败测试的波形？

MexicoPraveen,

我们没有传统器件的输出阻抗数据。 (这些器件是在20世纪80年代后期使用旧的 BJT 技术设计的)

您在测试器件时的 Vcc、负载和温度是多少？ 我们的新芯片提供了相关的 VoD 数据。

我观察到、我们的新型设计使用了我们现代收发器使用的更新 CMOS 结构、因此具有更好的输出驱动能力和电流消耗。

Unknown 说：

有迹象表明新芯片 AM26C31IDR 差分输出阻抗发生了变化、但 PCN 声明不存在任何形式、时基故障和函数受影响。 故障电路板使用旧芯片(后缀为 G4)进行了返工、能够通过子测试。

我不理解/看失败是什么。 您有通过和失败的波形是什么样子吗？  

对于故障、哪个特定参数会触发故障？

Unknown 说：

引线框(示例引脚1、2、7、8、9、10、15、16)、 内部团队遇到了一个问题、即旧器件和新器件的 OUT 阻抗是否仍然相同？ [/报价]

引线框对该器件的输出影响极小。 输出级的设计产生的影响要大得多。 我们不能比较传统阻抗。 据我所知、一些客户在测试中报告了更强/更好的驱动强度、因为 PFET 的正向二极管压降比传统器件更小。

Unknown 说：

另外、还需要您的支持人员了解这两款器件的生产日期代码和组装地点 AM26C311LDRG4 和 AM26C31LDR .

根据 PCN 通知、新裸片的组装地点应为马来西亚和墨西哥。 旧芯片在中国组装。

对于生产日期代码、我需要联系我们的物流团队以了解何时创建了新裸片。  

- Bobby

[/quote]

很抱歉晚才回复。 最后管理注册 TI 账户并在此处登录。   通过(使用旧器件)板和未通过(安装新器件)板的 GP_OUT+波形 有一种相似之处。  GP_OUT+的上升沿在 2V 至2.5V 之间出现振铃。 数据表中的 VOH (高电平输出电压)通常为3.4V 和2.4V 最小值。  GP_OUT+路径有一个低通 RC 滤波器(40 Ω、200pF)、后跟一个470nH 电感器。 这个正差分信号通过 ATP 矢量中的继电器并最终进入模块化示波器。  将示波器触发电平(现在为2V)从2V 调整到2.5V 范围后、无法使子测试通过。 在将示波器触发边沿更改为具有相同触发电平(2V)的下降沿后、子测试通过。 我们经验证、新的接收器 AM26C32I 能够正确地将差分信号重建为单端信号、差分数据在时钟的上升沿计时。 我们确定  GP_OUT+ 波形的子测试 不适合从 A5A5A5A5A5数据模式获得频率(振幅将保持相同的限制-请注意、此论坛中的另一位用户必须调整振幅限制以适应新器件)。