主题中讨论的其他部件: DS92LV2411
工具/软件:
您好、
我们的客户目前正在使用 DS92LV2412批量生产产品、他们观察到锁丢失问题、尤其是在低温条件下、有几台设备出现锁丢失问题。 这种锁定损耗表现为连接的 LCD 上闪烁。 客户已执行以下验证步骤:
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使用相同 PCB 版本进行冷却测试:仅有缺陷的器件出现锁定损耗、而正常器件未显示问题。
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已卸下液晶屏以消除潜在的噪音影响:问题仅在有缺陷的设备上持续存在。
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执行低温和高温测试:在低温条件下、锁定损耗尤其明显。
此外、他们还实施了数据表中建议的对策、例如使用磁珠和电容器在 VDDPR 线路上进行噪声隔离;但是、该问题尚未解决。
我们已经在 TI E2E 论坛上回顾了相关讨论(例如 锁定状态丢失、 建议的去耦电容值)、并了解大多数锁定不稳定性问题通常由电源质量、信号完整性和 PCB 布局等环境因素导致、而不是固有的器件故障。
根据上述情况、请您确认以下两点:
问题1. :是否有与 DS92LV2412批次标记"28AX4JUG3"相关的已知故障报告? 同一批次中发生了两个缺陷。
问题2. : 如果环境因素(电源、信号完整性、布局)已经过优化、但锁损耗仍然存在、是否有进一步的对策?
此致、
Conor