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[参考译文] DS92LV2412:DS92LV2412低温下的锁定丢失问题

Guru**** 2393725 points
Other Parts Discussed in Thread: DS92LV2412, DS92LV2411

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1507306/ds92lv2412-ds92lv2412-lock-loss-issue-at-low-temperature

部件号:DS92LV2412
主题中讨论的其他部件: DS92LV2411

工具/软件:

您好、

我们的客户目前正在使用 DS92LV2412批量生产产品、他们观察到锁丢失问题、尤其是在低温条件下、有几台设备出现锁丢失问题。 这种锁定损耗表现为连接的 LCD 上闪烁。 客户已执行以下验证步骤:

  • 使用相同 PCB 版本进行冷却测试:仅有缺陷的器件出现锁定损耗、而正常器件未显示问题。

  • 已卸下液晶屏以消除潜在的噪音影响:问题仅在有缺陷的设备上持续存在。

  • 执行低温和高温测试:在低温条件下、锁定损耗尤其明显。

此外、他们还实施了数据表中建议的对策、例如使用磁珠和电容器在 VDDPR 线路上进行噪声隔离;但是、该问题尚未解决。

我们已经在 TI E2E 论坛上回顾了相关讨论(例如 锁定状态丢失建议的去耦电容值)、并了解大多数锁定不稳定性问题通常由电源质量、信号完整性和 PCB 布局等环境因素导致、而不是固有的器件故障。

根据上述情况、请您确认以下两点:

问题1. :是否有与 DS92LV2412批次标记"28AX4JUG3"相关的已知故障报告?  同一批次中发生了两个缺陷。
问题2.  如果环境因素(电源、信号完整性、布局)已经过优化、但锁损耗仍然存在、是否有进一步的对策?

此致、
Conor

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Conor:

    这些器件中有多少件经过生产和测试? 在这个问题上找到了多少块板?

    闪烁问题是否可以重现并且每次上电后都会发生?

    他们是否已经进行过 ABA 交换、以检查问题是否出在芯片或电路板上?

    器件是 Ser-DES 对;客户如何辨别问题出在解串器方面?

    如果仅在特定批次中看到问题、并且仅与设备相关、则在大量测试的器件中、我们可以与质量团队进行讨论。

    此致、
    Ikram

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    尊敬的  Ikram:

    客户按照"相关问题"部分中的说明进行操作、并使用磁珠、22μF、0.1μF 和0.01μF 解耦、但情况没有改善。 因此、我们认为故障产品的解锁取决于特定器件并且取决于温度。

    我们将回答您的问题。

    生产和测试了多少台此类设备? 在该问题上找到了多少块板?

    2023年生产的器件超过10,000件、其中两件出现闪烁。 缺陷率为0.02%。

    闪烁问题是否可以重现并且每次上电后都会发生?

    每次打开电源时都会发生这种情况。 它具有高度可重现性。

    他们是否已经进行过任何 ABA 交换来检查问题是否出在芯片或电路板上?
    [/报价]

    更换 IC 可以改善问题。 此外、当使用不同的电路板更换有缺陷的器件时、新电路板上再次出现闪烁。

    这些器件是 Ser-DES 对;客户如何辨别问题特别是解串器的问题?

    串行器使用 DS92LV2411。 使用示波器检查 DS92LV2411的输出信号、未发现抖动或振幅不足等问题。 更改串行器并没有改善情况、并且由于解串器而产生闪烁。

    谢谢、

    Conor

    [/quote]
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    尊敬的 Conor:

    1.如果可能,您可以分享 DES 的原理图,这样我们就可以检查是否添加了所有必要的外部组件。

    2. 它们运行的像素时钟速率是多少? 如果它们以更高或更低的速率运行、即使在应力温度条件下、锁定是否稳定?

    3、加电顺序是否正确? "9.2.2.2上电要求和 PDB 引脚"部分对此进行了介绍。

    4、 发生闪烁时,锁暂时掉落,又回来了? 客户可以探测并分享波形吗?

    检查路径中的抖动和其他组件也会有所帮助。 外部元件(信号路径中的其他转换器和器件)可能会超出规格运行、从而导致 SI 问题、抖动。  

    此致、
    Ikram

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    尊敬的 Ikram:

    我们已在随附的 Excel 文件中包含有关您问题的信息、因此请查看。

    e2e.ti.com/.../DS92LV2412_5F00_20250509.xlsx

    更改像素时钟频率可以改善锁定问题、因此我们认为这是 PLL 相位补偿的特性所致。

    谢谢、

    Conor

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    谢谢你、Conor。 请给我1-2天时间来研究一下、然后再回复您。

    此致、
    Ikram  

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    尊敬的 Ikram:

    好的、我们期待收到您的答复。

    谢谢、

    Conor

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    尊敬的 Conor:

    我看到客户提到、当他们将频率提高到~μ V 12 MHz 而不是标称的6 MHz 时、系统不会失去锁定。 如果我们可以检查这是否与低频抖动有关、将会有所帮助。  您提到客户检查了抖动、您能否分享这些发现?

    此外、这个视频信号链中还有哪些其他器件? 这将有助于检查这些元件/器件是否在规格范围内或是否有任何影响。

    您也可以联系质量团队、如果他们发现这些器件有任何类似问题、我们可以从他们那里获得反馈。

    此致、
    Ikram

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    尊敬的  Ikram:

     您提到客户检查了抖动、您能分享这些结果吗?

    A. 我们尝试测量抖动、但当温度降低时、波形消失、因此无法进行测量。 然而、在这些条件下、我们确实观察到时间略有变化。  有关详细信息、请参阅以下 Excel 文件。

    [引述 userid="533059" url="~/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1507306/ds92lv2412-ds92lv2412-lock-loss-issue-at-low-temperature/5815017 #5815017"]
    此外、这个视频信号链中还有哪些其他器件? 这将有助于检查这些组件/器件是否在规格范围内或是否有任何影响。

    A. 配置包含在附件中。

    e2e.ti.com/.../20250522_5F00_Inquiry.xlsx

    如果可以通过器件设置提出任何建议或改进、我们将非常感谢您的指导。 此外、关于 PLL 锁定损耗问题、我们在更改输出频率时观察到以下行为:

    1. CLKOUT = 12 MHz→无锁定丢失(即使在低温下)

    2. CLKOUT = 8 MHz→无锁定丢失

    3. CLKOUT = 6.86 MHz→无锁定丢失

    4. CLKOUT = 6 MHz→发生锁定丢失

    由此、我们怀疑6.86 MHz 和6 MHz 之间可能存在一些阈值或行为变化、从而影响 PLL 锁定稳定性。

    谢谢、

    Conor

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    尊敬的 Conor:

    1.从您分享的图中可以看出、解串器 PCLK 输出似乎有一些变化。 这种变化可能超过可容忍的范围、并与锁丢失相关联。

    这还有助于检查 Rin 引脚上 DES 输入端的抖动。

    您还能要求客户分享他们如何测量抖动、包括带宽限制和他们使用的示波器。

    2. 您还可以要求客户测量 SER 和 DES 的电源噪音。 数据表 对此进行了说明。 我之所以这样建议、是因为这个问题是在较低频率下发生的。


    此致、
    Ikram