请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
部件号:DS125DF410 工具/软件:
DS125DF410 可通过读取寄存器 0x27 和 0x28 的值来测量 HEO 和 VEO。
此外、通过使用软件 SigCon Architect、可以通过眼图监视器页面以图形方式确认眼图张开度的状态。
这些结果数据是在 CTLE 和 DFE 校正之前吗?
还是校正后的数据?
如果是校正前的数据、可用于考虑 DS125DF410 输入信号的信号质量改进。
如果这些是校正后的数据、则可用于考虑 DS125DF410 的 CTLE 和 DFE 设置的优化。
我想知道如何利用这些眼图张开度测量功能来进行这两个考虑。