零件編號:DP83TG720EVM-MC
工具 μ 軟體:μ V
嗨、TI 團隊、
我們已經使用 TekExpress 成功設定了 SPE 測試環境、現在我們可以執行測試模式 1~7、如所附螢幕截圖 TEST environment.jpg 所示。
我們希望您能就模式 1 的一些失敗結果和問題提供協助。以下是我們的客製化專案板 4 和模式 (X303-EC) 和 CRB 參考板之間的比較:
模式 1→無波形輸出、無法進行測試。CRB 也會出現此問題。
模式 2→X303-EC 測試結果為失敗;CRB 測試結果為通過。然而、誤差幅度僅~0.02。μ s
模式 4→無法測試。根據軟體 SOP、此測試需要特殊夾具。CRB 也存在同樣的問題。
模式 5→結果失敗、與 CRB 相同。
模式 6→通過、結果與 CRB 相同。
我們將非常感謝您就以下事項提供指導:μ s
-
模式 1 和模式 4 是否有任何已知問題或其他要求?
-
您能否確認在每種測試模式下波形擷取的 μ s 正確偵測位置(例如、TRD_N或其他)?Ω
Test_Mode_ 1.
开始
000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e 2000
结束
Test_Mode_ 2.
开始
000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e 4000
结束
Test_Mode_ 4.
开始
000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e 8000
000d 001F
000e 0453.
000d 401F
000e 0019
结束
Test_Mode_ 5.
开始
000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e A000
结束
Test_Mode_ 6.
开始
000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e C000
结束
e2e.ti.com/.../CRB.pdfe2e.ti.com/.../X303_5F00_EC_5F00_A_5F00_SPE_5F00_CN1.pdf