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[参考译文] DP83TG720EVM-MC:DP83TG720R-Q1 SPE 测试–模式 1 和放大器;模式 4 问题、与 CRB 的比较

Guru**** 2378480 points
Other Parts Discussed in Thread: DP83TG720EVM-MC, DP83TG720R-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1526507/dp83tg720evm-mc-dp83tg720r-q1-spe-testing-mode-1-mode-4-issues-comparison-with-crb

主题中讨论的其他器件:DP83TG720EVM-MCDP83TG720R-Q1

零件編號:DP83TG720EVM-MC

工具 μ 軟體:μ V

嗨、TI 團隊、

我們已經使用 TekExpress 成功設定了 SPE 測試環境、現在我們可以執行測試模式 1~7、如所附螢幕截圖 TEST environment.jpg 所示。

我們希望您能就模式 1 的一些失敗結果和問題提供協助。以下是我們的客製化專案板 4 和模式 (X303-EC) 和 CRB 參考板之間的比較:

模式 1→無波形輸出、無法進行測試。CRB 也會出現此問題。

模式 2→X303-EC 測試結果為失敗;CRB 測試結果為通過。然而、誤差幅度僅~0.02。μ s

模式 4→無法測試。根據軟體 SOP、此測試需要特殊夾具。CRB 也存在同樣的問題。

模式 5→結果失敗、與 CRB 相同。

模式 6→通過、結果與 CRB 相同。

我們將非常感謝您就以下事項提供指導:μ s

  1. 模式 1 和模式 4 是否有任何已知問題或其他要求?

  2. 您能否確認在每種測試模式下波形擷取的 μ s 正確偵測位置(例如、TRD_N或其他)?Ω

Test_Mode_ 1.

开始

000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e 2000

结束

Test_Mode_ 2.

开始

000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e 4000

结束

Test_Mode_ 4.

开始

000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e 8000

000d 001F
000e 0453.
000d 401F
000e 0019

结束

Test_Mode_ 5.

开始

000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e A000

结束

Test_Mode_ 6.

开始

000d 0001
000e 0904.
000d 4001
000e C000

结束

 e2e.ti.com/.../CRB.pdfe2e.ti.com/.../X303_5F00_EC_5F00_A_5F00_SPE_5F00_CN1.pdf

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    您好、Jim、

    这是国际 E2E 论坛。为了让我们队员看懂你的帖子、请用英文写、谢谢。

    (这是国际 E2E 论坛。 为了让我们的团队成员了解您的帖子,请用英语书写,谢谢)。

    __________________

    应用手册 (https://www.ti.com/lit/an/snla371b/snla371b.pdf) 介绍了 DP83TG720 用于合规性测试的配置。 DP83TG720 上电后、必须使用第 3 节中所述的主/从初始化脚本对其进行编程,以优化电气性能 — 如果它尚未纳入您的程序,请执行此初始化。 然后、可以配置测试模式。

    > 模式 1→无波形输出,无法进行测试。 CRB 也有这个问题。

    1) 第 4 节中关于测试模式 1 的注释说:1) 在运行测试之前、DP83TG720 和链路伙伴之间必须有链路;2) 用于测试的时钟信号暴露在 DP83TG720 的 CLKOUT 引脚上。 您能否验证是否存在链路伙伴、链路已接通、并且正在测量来自 PHY 的 CLKOUT 信号?

    > 模式 2→X303-EC 测试结果失败;CRB 测试结果通过。 但是、误差幅度仅为~0.02。

    测试模式 2 用于 MDI 抖动测试。 如果它在 TI 电路板上工作、但客户电路板有问题、则该故障可能与客户电路板布局设计的某些部分有关。 由于故障非常轻微、因此运行多次测试或查看测试设置中是否可以收紧/优化一些内容也可能会有所帮助。

    > 模式 4→无法测试。 根据软件 SOP、此测试需要特殊的装置。 同样的问题也适用于 CRB。

    好的、这听起来像是硬件限制。 我不确定我们能否就此提供任何建议。

    > 模式 5→结果失败、与 CRB 相同。

    测试模式 5 用于功率频谱密度 (PSD) 测试。 PSD 失败的一个常见原因是 PHY 和示波器之间可能存在过多的插入损耗。 如果可以缩短电缆或使用更少的连接器级、则有助于改善测试结果。 否则、这是一个布局问题。

    > 模式 6→通过,结果与 CRB 相同。

    好的。

    一般而言、我建议您查看 PHY 初始化和测试过程、以确保它们遵循我们的建议、然后查看测试装置是否有任何改进。 如果此后仍有问题、我们可以帮助您审查客户 PCB 的布局。

    此致、

    Evan Su

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    TI 团队、

    感谢您之前有关 DP83TG720R-Q1 测试模式 1 的回答。

    在您的手册中、您提到了根据应用手册的第 4 节、测试需要:

    1. DP83TG720 和链路伙伴之间的有效链路

    2. 测试的时钟信号暴露在 CLKOUT 引脚上

    我们想确认以下几点:

    1. 这意味着什么 两个 PHY 器件必须通过 SPE (TRD_P/N) 进行物理连接并处于链路建立状态 在测试模式 1 之前将输出 125MHz 时钟?

    2. 根据数据表、我们相信 引脚 16 是 CLKOUT 输出 。 您能否确认这是用于观察 125MHz 信号的正确针脚?

    3. 因为引脚 16 是 A 单端输出 、而我们的示波器设置程序当前使用 差分探头 、探测此信号的正确方法是什么?

      • 探头的一侧是否应该连接到引脚 16、另一侧是否接地?

      • 还是建议使用单端探头进行此测量?

    您的澄清将有助于确保我们正确执行测量。 提前感谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jim、

    这是否意味着 两个 PHY 器件必须通过 SPE (TRD_P/N) 进行物理连接并处于链路建立状态 在测试模式 1 之前将输出 125MHz 时钟?

    是的。

    根据数据表、我们相信 引脚 16 是 CLKOUT 输出 。 您能否确认这是用于观察 125MHz 信号的正确针脚?

    引脚 16 是默认的 CLKOUT 引脚、因此除非 CLKOUT 已被有意重新分配到另一个引脚(很可能您没有)、否则可能会出现 125MHz。

    因为引脚 16 是 A 单端输出 、而我们的示波器设置程序当前使用 差分探头 、探测此信号的正确方法是什么?

    在我们的电路板上、我们通常将 CLKOUT 路由至 SMA 或类似电缆连接器。 对于差分探头、我认为将一侧连接到引脚 16、将另一侧连接到 GND 的第一个选项应该可以生成可视波形。 我不确定与电缆相比可能存在的测试性能差异。

    此致、

    Evan Su

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好  Evan  

    在测试模式 1 验证期间、我们通过 SPE (TRD_P/N) 将两个 DP83TG720R-Q1 CRB 板连接在一起、将一个主器件配置、将另一个配置为从器件。

    我们观察到以下情况:

    我们连接了一个差分探头、使得正输入连接到主板的 CLKOUT SMA(引脚 16)、负输入连接到从板的 CLKOUT SMA(引脚 16)。

    在此设置下、我们能够在示波器上观察到稳定的 125MHz 波形、并且 TekExpress 模式 1 测试通过。

    我们的问题:
    我们理解 CLKOUT 是单端信号。 从信号完整性和测量精度的角度来看:

    这种差分探测方法(主 CLKOUT 与从 CLKOUT)是否是在测试模式 1 下观察时钟的有效且推荐的方法?

    或者、标准实践是否应该是使用单端或伪差分设置(如前所述)仅探测一个 PHY 的引脚 16(例如主器件)?

    这种差分测量方法是否会引入抖动屏蔽、相位偏移或以任何方式影响精度?

    我们非常感谢您对这种探测方法的有效性和意义的见解。

    此致、

    Jim Shen

    CRB 模式 1 通过

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jim、

    这种差分探测方法(主 CLKOUT 与从 CLKOUT)是否是在测试模式 1 下观察时钟的有效且推荐的方法?

    根据 OA 1000BASE-T1 PMA 测试套件概述 (https://opensig.org/wp-content/uploads/2024/01/1000BASE-T1-PMA-Test-Suite-1-3-v1-2.pdf) 的第 20 页、发送器时序抖动测试 有 3 个用例。 案例 1 和案例 2 使用测试模式 1、在 DUT 上以主模式或从模式运行、时钟从 DUT 路由到示波器。 不支持您描述的差分探头中每个差分线路连接到不同器件的方法。

    或者、标准做法是否应该是使用单端或伪差分设置(如前所述)仅探测一个 PHY 的引脚 16(例如主器件)?

    这符合规范。

    这种差分测量方法是否会引入抖动屏蔽、相位偏移或以任何方式影响精度?

    我之前没有测试过您的方法、但从原理来看、我看不到正影响、也不了解将不同器件的两个单端时钟混合到一个差分信号以进行测量的动机。 即使在理论上、主时钟和从时钟也不相同、因为测试说明将主发送器时序测量与从发送器时序测量分开。 运行测试时、DUT 应只使用一个 PHY、并将其配置为主模式或从模式进行测量。 在此类需要链路伙伴而不是 DUT 的测试中、链路伙伴属于链路伙伴。 因此、您描述的复合差分时钟的摆幅可能是正常预期摆幅的两倍、抖动/相位特性可能更差、在我看来、这不是测试要测量的量。

    此致、

    Evan Su