工具/软件:
您好、
我的一个客户在使用两个 TI MLVDS 芯片。 一个是八通道 SN65MLVD080(1 类)、另一个是单通道 SN65MLVD206D (tpye2)、 它们会有 以下问题。
1、在使用 TI 的 MLVDS 解决方案时,如何解决差分信号空闲时共模电平稳定性问题,差分信号稳定性问题?
2、是否存在将 TI 的 1 类 MLVDS 芯片与 2 类 MLVDS 芯片混合的风险?
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工具/软件:
您好、
我的一个客户在使用两个 TI MLVDS 芯片。 一个是八通道 SN65MLVD080(1 类)、另一个是单通道 SN65MLVD206D (tpye2)、 它们会有 以下问题。
1、在使用 TI 的 MLVDS 解决方案时,如何解决差分信号空闲时共模电平稳定性问题,差分信号稳定性问题?
2、是否存在将 TI 的 1 类 MLVDS 芯片与 2 类 MLVDS 芯片混合的风险?
尊敬的 Ken:
我们的 LVDS 专家 Parker 今天已离职、但明天他将回来、以防您有其他问题。
同时、以下是一篇有关失效防护偏置(可在空闲条件下帮助解决)的文章: https://www.ti.com/lit/an/snla051c/snla051c.pdf
有几个现有的 E2E 帖子似乎可以解决您的混合 MLVDS 器件问题: https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1084116/mlvd20xbevm-interfacing-type-1-mlvds-to-type-2
最后、有一个实用的 LVDS 配套资料和指南列表可供将来参考: https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1508727/faq-lvds-m-lvds-transceiver-resources
如果您仍有问题、请告诉我们、
Ethan
尊敬的 Ken:
理想情况下、您不会混合类型、因为它们通常用于不同的最终目标。 但混合不能保证失败。
对于您的第一个问题 — 在询问空闲时公共信号的稳定性时,他们到底在问什么? 我对问题是甚么、以及对这个问题有甚么关注、感到有点困惑。 理想情况下 — 如果您使用适当的布局技术,信号完整性应该会很好-因此、如果对实际提出的问题做出任何澄清、我将非常感激!
此致、
Parker Dodson
Parker
请忽略第一个问题并检查附件中列出的以下问题。
Q1:DE 为高电平后、差分输出启用多长时间?
问题 2:请参阅图 01、当 DE 为高电平时、差分信号振幅随着时间的推移而减小的原因是什么?
尊敬的 Ken:
1.数据表中的 7ns — 测试电路和数据表摘录如下
2.看起来系统的阻抗不是完美匹配的,你在启动时看到一些反射/其他干扰 — 所以你看到的不是驱动器不会随着时间的推移变得越来越弱,而是信号稳定到一个稳态电压 — 然而它似乎没有损坏的风险-你仍然有很强的驱动强度。 但我可以查看您的布局和原理图,看看是否可以做出任何改进 — 看起来像是最终稳定到稳定的过冲/下冲 — 但如果我可以看到原理图/布局、我们也许可以减少这种改进。
此致、
Parker Dodson