[参考译文] DS280BR810：DS280BR810

您好、Akimaru-San、

• 这些测量使用 VNA 而后者具有输入信号功率、使 DS280BR810 的输出能够保持在器件的线性区域内。  对于高 CTLE 值、输入信号振幅会很小。  例如、如果输出信号的线性度大于 1Vppd、并且您要在 20dB 升压下测试 CTLE 设置、则输入信号必须小于 100mVppd。
•  器件前后的传输线在 VNA 校准期间进行校准或取消嵌入、以避免影响升压测量。

谢谢、

Drew

尊敬的 E2E 团队：

感谢您的答复。 此外、我想询问更多详情。

我会检查 DS280S IBIS-AMI（包括封装）中输入和输出之间的频率响应。 随着 I 增加 Tx 驱动器的输出幅度（图中的 Swing_Lev =±X[mV]）、输入和输出之间频率响应高频范围内的增益会增加。

当 Tx 驱动器的输出振幅为±50mV 时、会观察到双极点 1 零 CTLE 的典型频率响应。 但是、随着我将振幅增加到±100mV、±200mV 等、高频范围内的增益会继续增加。 什么类型的功能导致了这一特性？


此致

您好、Akimaru-San、

DS280BR8x0 可以作为线性或限幅转接驱动器运行、具体取决于其配置方式。  在 IBIS-AMI`中、这由`sel_fir 变量控制。   哪种模式是 sel_fir 变量？  如果您对其进行更改、这是否会影响您的观察结果？

谢谢、

Drew

您好、Drew、

感谢您的确认。
我在“0"处“处使用“sel_fir"（“（默认（默认线性模式）。

我切换到“sel_fir=1"并“并进行了检查。 DS280 的输出振幅已更改、
但我在上次沟通中提到的行为没有变化。  
↓μ s
当 Tx 驱动器的输出振幅为±50mV 时、会观察到双极点 1 零 CTLE 的典型频率响应。
但是、随着我将振幅增加到±100mV、±200mV 等、高频范围内的增益会继续增加。

此致。

您好 、Akimaru-San、

感谢您确认您使用的发送器模式。

您是否可以共享您的 ADS 项目？  我想看看这种行为。

谢谢、

Drew