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[参考译文] TCAN1057A-Q1：确认不利避免情况

admin
Guru**** 2526700 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1565430/tcan1057a-q1-confirmation-of-adverse-avoidance-situations

器件型号：TCAN1057A-Q1


工具/软件：

您好专家

有人提出了一个关于确认 CAN 芯片 TCAN1057AVDRQ1 过去的不良逃逸情况的问题：

此芯片是否遇到过诸如由于键合线缺陷导致的接触面积不足、温度变化下的接触不良以及随后的通信故障等问题？ 如果发生这种情况、原工厂是如何改进的？ 如果从未发生过这种情况、在生产过程中如何对其进行控制？

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    TI__Guru**** 2526700 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Ian：

    这似乎更像是一个质量问题、而不是一个应用问题。 但是、根据我在支持此设备方面的经验、我看不到我们在哪里遇到过此类问题。 如果发生这种情况、组装厂通常会接受客户退回的器件、调查并实施适当的纠正措施、以帮助确保组装的器件不会遇到此类问题、谢谢。

    此致、

    Michael。