工具/软件：
当我在此处测试 CAN 通信时、我很快发现向从动器件发送命令后、从动器件没有返回数据。 此时、我检查了 tcan4550 的中断 nINT 引脚、并发现它始终处于低电平。 芯片应该异常。
CAN 命令发送了 10 次。 从第 0 次到第 9 次、从器件可以回复数据。 在第 10 次之后、从器件不再回复 CAN 数据。
我非常焦虑。 请帮助我确定问题是什么以及如何解决
尊敬的 Jimmy：
您似乎收到了一个未校正的 ECC 错误、该错误导致器件重新进入初始化模式（设置控制寄存器 0x1018[0]= 1 的 INIT 位）并停止 CAN 通信、从而导致 CAN 静音错误、进而导致设置 CAN 错误和全局错误位。
MRAM 单元在上电或复位后不会自动初始化为“0"，“，但、但 ECC 计算假设所有未使用的位都具有值“0"。“。 如果在配置序列中未将缓冲单元初始化为零、则需要确保向 MRAM 元素（例如 TX 缓冲区）中的任何未使用字节写入零、以防止可能的 ECC 错误。
此致、
Jonathan
你好、Jimmy 和 Wang、
我不确定您使用的 TXB_Element_size 值是多少、但如果它不是 18、那么您可能无法根据我对初始化序列的理解、将分配的所有 MRAM 完全初始化为零。 TX 缓冲区元素有 2 个标头字（8 个字节）+从 TX 缓冲区数据字段大小寄存器（寄存器 0x10C8[2：0]中的 TBDS）分配的字节数。 目前、您有一个 64 字节的数据字段、即 16 个字。
如果您偶然为 TXB_Element_Size 使用 16 或 18、以验证是否可能未初始化所有 TX 缓冲器/FIFO 存储器。
从您的配置来看、您使用的 MRAM 大约为 97%、并且您只有 16 个未使用的 MRAM 字尚未初始化。 我建议初始化所有 MRAM (0x8000 至 0x87FF)、以确保不可能访问尚未初始化为零的存储器、并消除 ECC 错误的可能原因。
从您的数据日志中、我看到 MRAM 单元 0x87C0 至 0x87FF 是尚未初始化的随机值。 请尝试初始化这些字节、看看这样是否解决了您的 ECC 错误。
从原理图中可以看到、整体看起来正常。 我不知道晶体的负载电容要求是什么、但 OSC1 和 OSC2 的 22pF 电容器大约是 40MHz 晶体正常值的两倍。 由于 MCAN 控制器和数字内核直接使用晶体、因此该时钟的任何中断也会导致 SPI 和 CAN 通信错误。 通常、如果晶体电路未进行优化、当 OSC2 上的振荡电压降至 150mV 以下时、它可能会无法开始振荡、停止振荡、或者通过在单端时钟模式和晶体模式之间切换而发生中断。
另请查看 TCAN455x 时钟优化和设计指南应用报告 （链接）、了解更多信息。
此致、
Jonathan
尊敬的 Wang：
2.在规格表中找不到 0x0800 的介绍[7：6]。 请提供。
您可以在数据表中找到此信息。
3.我们能否从当前现象和 regdump 中确认这是软件相关问题还是硬件问题？
我在软件配置或器件中断中没有看到说明。 我可以看到 PEA 位被置位、指示消息在仲裁阶段出现协议错误、但错误计数器全部为零、协议状态寄存器不会指示器件处于警告或总线关闭状态。 因此、它可能不是器件停止通信的原因。
我所看到的是 TX FIFO 完全为空、并且没有加载要发送的消息。 如果原始投诉仍然是该器件在向其发送消息后没有响应、那么我预计会有消息加载到 TX FIFO 中、等待传输、或者该器件会由于过多错误而被禁用。
我目前不能说此器件或硬件的配置在功能上有任何问题、并且我当前对您提供的信息的解释表明将消息加载到 TX FIFO 以进行传输时出现了问题。
当发生 CAN 静音或无响应情况时、您是否可以验证 MCU 是否已将消息加载到 TX FIFO 中、并已写入 TX 缓冲区添加请求 (TXBAR) 寄存器 (0x10D8)、为用于消息的相应 TX FIFO 元素设置“1"？“？
TX FIFO 空闲级别设置为 5、这也等于 TX FIFO 大小、这意味着它完全为空。 TX 缓冲区请求挂起寄存器 (0x10CC) 也为 0x0、这意味着没有正在等待传输的 TX 消息。
我怀疑该错误可能与软件相关、并且 MCU 已停止将消息加载到 TX FIFO 中、从而导致您的 CAN 静音错误。
此致、
Jonathan
尊敬的 Wang：
MCU 成功发送 TX 数据后、它仅触发了一个中断、没有接收到从器件返回的任何数据。 [/报价]我不确定这是否意味着器件返回的值为 0x0（因为这是正在读取的寄存器的值）、或者是否存在错误且返回的值为 0x0（因为器件未响应 SPI 读取）。
如果器件在 SPI 读取事务期间未能返回数据、则可能存在时钟问题。 数字内核和 MCAN 控制器直接由连接到 OSC1 和 OSC2 引脚的高速时钟（晶体）供电。 如果中断、数字内核将无法将寄存器数据加载到 SPI 接口 FIFO 中、MCU 将使用较慢的 SPI 时钟检索这些数据。 此外、MCAN 将无法发送或接收 CAN 消息。
在 SPI 写入事务期间、MCU 将使用 SPI 时钟将数据加载到 SPI 接口 FIFO 中、TCAN4550 数字内核将使用高速 OSC 时钟将该数据从 FIFO 中拉出。
同样、TCAN4550 数字内核将在 SPI 读取期间使用高速 OSC 时钟将数据加载到 SPI FIFO 中、MCU 将使用 SPI 时钟将该数据从 FIFO 中拉出。
如果 SPI 时钟或 OSC 时钟中断、SPI 通信将失败。 由于 SPI 通信由 MCU 控制、因此 TCAN4550 控制的唯一信号是 SDO (MISO) 信号。
在我之前的帖子中、我多次提出了时钟电路和晶体电容值。 我没有看到对这些注释的响应、但我需要您验证晶体电路是否正确优化并提供稳定的时钟。 此类与寄存器配置无关的大多数 SPI 和 CAN 错误通常是由时钟不稳定造成的。
在您的原理图中、我看到一个晶体器件型号为“7M1100002"和“和 22pF 电容器值。 搜索有关“7M1100002"的“的信息我只看到具有该器件型号且总负载电容为 12pF 的晶体的参考资料。
您能否验证特定晶体的总负载电容要求？ 使用估算 3pF 的 PCB 电容和 22pF 负载电容器、我计算出您晶体上的近似总负载电容为 18.75pF。 如果负载电容器过大、则可能导致振荡停止或无法启动。 这些中断也可能是间歇性的、并会随其他条件（例如温度）而变化、进而导致寄生电容值发生变化。
请查看 TCAN455x 时钟优化和设计指南应用报告 （链接）。
如果您的晶体的时钟电容规格较低、您能否调整电路板上的电容值、看看是否因使故障频率增加或减少而使测试结果发生任何变化？
此致、
Jonathan
