[参考译文] DP83867IR：启用并测试 BIST/环回模式、用于故障排除硬件故障

尊敬的 Akshay：  

“你说什么?

对于环回模式、请遵循 0x0016 寄存器中的寄存器说明。  




对于 MII 环回、可通过将 0x0000 寄存器的位 14 设置为高电平来启用该功能。  

此致、
j

您好：

  感谢您的澄清。 我们希望启用 BIST。

  请参阅指南中的本节

  

  遵循了同一个指南。 但接收到的数据包或任何其他计数都没有变化。

  尝试了模拟或 数字等不同的环回路径。 但 无法使其正常工作

此致、

Akshay D

尊敬的 Akshay：  

您测试的速度是多少？ 此外、您使用什么来访问 MDIO？

脚本中的措辞有点令人困惑、但第一个条目是寄存器地址、第二个数字是要写入寄存器的值。  

在注释中、当他们说将 0000 写入 2100 时、脚本旨在表示将 0x2100 写入寄存器 0x0000。  

当您同时启用环回功能生成数据包时、您能告诉我们对寄存器 0x0000、0x0016 和 0x0017 的读取内容吗？

此致、
j

您好 J

  对延迟回复表示歉意。


  由于我们在 1Gbps 速度下遇到问题、所有操作都是以 10Mbps 的速率完成的

  我们完成了测试脚本、正如您提到的。 但在测试时、BIST 不起作用。 例如、如果环回中存在错误、则应使错误计数器递增；如果环回成功、则应使成功计数递增。 但是、两个计数保持不变。

此致、

Akshay D

尊敬的 Akshay：  

您的 MDI 引脚是否端接至 100 Ω？
如果没有、您是否尝试过数字环回或 PCS 环回？
如果内部 BIST 无法工作或无法选择端接、我还建议尝试将 PHY 置于反向环回模式、然后连接到另一个 PHY 以生成数据包并将数据包发送到 DUT。  
此致、
j

您好 J

  MDI 上没有 100E 终端。

  但是、我们已经尝试了各种配置。 但没有任何测试工作（或者在我们认为,我们没有）。

  我们有一个 EVM 板。 我们需要的是执行 BIST 的步骤。 我们将在 EVM 上运行它。 我们可以放心地说、在 EVM 上、一切都正常。 因此、它成为了我们的基准系统。

 我们将在定制电路板上执行相同的过程、并比较结果。

 我们需要至少一个良好的测试装置。 这可以是 EVM。 相应地、我们将比较定制电路板。

此致、

Akshay D