请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
部件号：TLK2501工具/软件：
TI 代表、您好
我们观察到、在使用 TLK2501 作为高速发送串行器的多个系统中、发生了罕见的局部数据损坏。 在室温下进行的一项有代表性的试验中、我们捕获了总共~4400 个不良帧中的 10 个错误帧。 每个事件都限制在帧内的单个水平行、存在位级异常、例如强制使字为 0x0000 或明显 MSB 翻转、而相邻行保持干净。 在一个受影响的主板上更换 TLK2501 后、损坏停止、随后的捕获不会产生坏帧。 我们的原理图和布局已根据 TLK2501 文档进行了审核、并且符合要求。 我们寻求有关潜在器件灵敏度或运行条件的指导、以解释这些间歇性字/位错误。
设置（摘要）
- 仅 TX（RX 未使用）。 将 CML 输出交流耦合到 50Ω。
- VDD = 2.5V；DOUTTXP/N 上的 49.9Ω 上拉至 2.5V；RREF = 150Ω；根据数据表提供本地去耦+铁氧体磁珠。
- 由 FPGA 提供 GTX_CLK；TLK2501 正常（非测试）模式下的控制/测试引脚。
- 有效载荷是一种确定性 14 位测试模式（帧时序与工作模式相同）、用于检测 single-bit /字错误。
Test Method
- 连续捕获帧并根据像素/位与已知良好的基准进行比较、以检测 single-bit 或字错误。
观察到的行为
- 室温运行：总共~4400 个坏帧中有 10 个坏帧
- （框架 4,280,4304307432432743343354346、 4,366,4374377438438043843824389)。
误差特性：
- 损坏为行局部化：每个事件影响一个水平行；相邻行是干净的。
- 位级增量显示：
- 整个字强制为 0x0000、或
- MSB 组切换（高位翻转）、或
- 找到特定的重复字值。
- 事件之间不会重复像素位置（间歇性，未卡住）。
- 通过对 10 个帧的额外分析、可以发现丢弃的位、重复的数据模式和与上述行为一致的特定错误像素值。
我们尝试/观察到的情况
- 在受影响的主板上更换 TLK2501 已移除故障（之后未观察到错误帧）。
- 我们根据 TLK2501 + PowerPAD 应用手册审查了原理图/布局；未找到不合规问题（有详细信息）。
请求指导
- 在其他标称条件下、TLK2501 灵敏度是否已知会产生间歇性的字级清除 (0x0000) 或 MSB 翻转？
- 例如、RREF 容差/漂移、VDD 纹波、CML 负载/端接容差、GTX_CLK 抖动 器件老化/ESD/潜在损坏、PowerPAD 焊料空洞/热偏移。
- 是否有可能映射到我们症状的与数据包中干扰（例如空闲插入，TX_EN/TX_ER 时序）相关的勘误表或字段说明？
- 推荐的基准诊断用于隔离器件与系统：
- DOUTTX±处的眼图、TLK2501 引脚上的电源纹波、GTX_CLK 处的抖动屏蔽、PRBS 模式 BER 目标、温度扫描指南。
- 交流耦合 50Ω 链路中 TLK2501 的任何最低/典型 BER 预期以及建议的 PRBS 模式/长度？
我们可以分享示波器捕获 (TX 眼图、VDD、GTX_CLK)、布局摘录（PowerPAD、RREF 放置）、 和错误日志。
感谢您的任何建议或已知缺陷。
