Other Parts Discussed in Thread: TLK10232EVM, TLK10232
器件型号： TLK10232EVM
主题中讨论的其他器件： TLK10232
使用原始 TLK10232EVM 测试板时、出现了一些问题。 使用的模式为 10G 1:1、速率为 4.9152。
链路训练：禁用
自动协商：禁用
此处有 4 个测试用例：
1.使用 A 通道进行测试,将光学模块测试板的电气端口连接到 BERT 的 TX 上,然后通过光纤连接到 TLK10232EVM 测试板上。 然后、将 BERT 的 Rx 连接到低速 ls 输出端口。 测试出的错误率为 5*5e-6、非常高。
2.使用 A 通道进行测试,将光学模块测试板的电气端口连接到 BERT 的 Rx 上,然后通过光纤连接到 TLK10232EVM 测试板上。 然后、低速 ls 输入端口连接到 BERT 的 TX。 测试出的错误率为 5*5e-6、非常高。
3.使用 B 通道进行测试,BERT 的 TX 直接连接到 tlk10232 的高速 Rx 上,然后将 tlk10232 的低速 ls 输出端口连接到 BERT 的 Rx 上。 测试出的错误率为 5*5e-6、非常高。
4.使用 B 通道进行测试,BERT 的 Rx 直接连接到 tlk10232 的高速 TX 上,然后 tlk10232 的低速 ls 输入端口连接到 BERT 的 TX 上。 无法读取错误率、并且与 BERT 的连接失败。 所有测试配置都相同。 2 和 4 的原则应该相同。 2 个可以测试、但 4 个无法测试。 这表明通道 B 本身存在故障。 实际上、在本地测试中、错误率不应达到 5*5e-06 水平。
同样、如果修改为 10G：1 至 2 模式、则所有测试用例都无法从 BERT 读取错误率、并且与 BERT 的连接失败。
我尝试了论坛上的建议：
(1)：将 HS_ENTRACK (0x1E.0004 的位 15) 写入 1'b1、将 HS_EQPRE (0x1E.0004 的位 14：12) 写入 3'b101。
(2)：通过将 1'b1 写入 0x1E.000E 的位 3 来发出数据路径复位。
结果仍然相同。
您能否查看该区域是否存在任何潜在问题？ 谢谢你。
