[参考译文] DS160PT801：是否有一种算法覆盖 DFE 和 Ref0、REF1

尊敬的 Tony：

我会研究这个,并尽快回到你。

此致、

GREG

尊敬的 Tony：  

对延迟深表歉意。 在正常温度条件下覆盖时是否看到相同的结果？ 通常、对于大多数应用、不建议使用 DFE 覆盖。 我将与我们的设计团队进行核实、了解覆盖是否 需要进一步配置、或者它在低温下是否有效。

此致、

GREG

您好、Greg、  我认为我的设置有两个问题：

似乎不会停止 DFE/VREF 自动校准。  无论温度如何、当我超控时、它始终会调整到极端。

第二个问题是、似乎我错过了一种机制、因此链路训练可以在 DFE 被覆盖的情况下进行。   我可以在已设置为第 4 代时覆盖并保持链接状态。  如果在链路训练之前覆盖、它永远不会尝试速度跳跃、仅保持在 Gen1。

我想说不要花时间讨论这个问题、但如果实验中使用该器件的人具有合适的寄存器设置、我会给他们一个机会。    我们正在调整我们的此拓扑设计、 以便增加一个重定时器（之间的连接器较少）、从而有望缓解该问题。

可能影响 DFE/Ref、可能影响 CDR 的设置：

  我们认为我们的问题是不对称的 RX 眼“将采样器从眼的边缘“混淆“。    我们从大约 0.6UI、160mV 眼图开始、但随着时间和温度的推移会看到眼图减小、然后返回。 特别是一个通道（封装引脚 P3、N4）、但该接口上的所有通道都存在一些漂移。   我们对传入 RX 唯一的控制是我们发送到主机的预设...

  想知道是否有设置会限制 DFE 和 CDR 的调整速度？   我们不支持 Spread_Spectrum、因此我认为、如果我们能够确保所有的培训 FSM 花费更长时间、它将从统计角度避免导致其漂移的任何情况。

谢谢、
Tony

尊敬的 Tony：

我 可以联系测试组、确定 是否有人使用过类似的测试、并在较低温度下遇到 CDR 未锁定/眼图问题。

此致、

GREG

尊敬的 Tony：

如果您在 E2E 上将我重新添加为朋友、我可以分享一些用于检查 DFE 覆盖的脚本。 我们的团队更愿意分享此类信息而不是私人信息。

此致、

GREG

你好格雷格 — 我添加了你作为一个朋友。

Tony

尊敬的 Tony：

感谢您发送编修。

此致、

GREG