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[参考译文] ESD1LIN24:请求确认在 X 射线检查下观察到的结构变化

Guru**** 2805925 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1615033/esd1lin24-request-for-confirmation-on-construction-variations-observed-under-x-ray-inspection

器件型号: ESD1LIN24

您好团队:

我们希望这封电子邮件能为您提供帮助。

在对器件型号 ESD1LIN24DYFR 进行 X 射线检查后、我们观察到在相同的生产群体中存在两种内部结构变体。

所有检查的器件都以相同的方向安装在 PCB 上、在外部外观、可焊性或组装行为方面没有明显的差异。

该变化严格限于芯片内部和/或键合线方向、在 X 射线检查中可见。

根据数据表、ESD1LIN24DYFR 指定为双向 ESD 保护器件、未定义极性。

鉴于此、并且鉴于我们没有内部设施来进一步评估内部设计意图、我们恳请您确认以下几点:

  • 是否在同一器件型号下允许使用多个内部结构(例如芯片镜像或引线框方向差异)。
  • 确认这些内部变化不会影响器件的外形、时基故障或功能、也不会影响器件的电气性能或可靠性。
  • 简短声明、确认此类内部结构差异是正常的、受控的、并且在制造商的设计和组装流程中是可以接受的。

供您参考、X 射线影像:

TI.jpg

我们感谢您的支持、并期待您的澄清。

提前感谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、Ehab、  

    我对这里的问题感到困惑。 这是因为左侧的两个器件与其他器件相比方向翻转了吗?

    此致、

    McKenzie

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好 McKenzie、

    感谢您发送的消息、感谢您花时间查看分享的信息。

    为了进行澄清、我们的查询特别涉及此 X 射线图像中突出显示的两个器件:



    位于左上角。 与相同检查人群中的其余器件相比、这两个器件显示了翻转的内部方向。

    对于调整、我们的重点是以下几点:

    • 确认此翻转的内部方向是器件型号可接受且有意为之的内部结构变体 ESD1LIN24DYFR

    • 确认此类内部方向差异不会影响外形、配合或功能

    • 确认电气性能和长期可靠性不受影响

    我们感谢您的支持、以确认此内部变化是否正常并在制造过程中受控。

    提前感谢您的澄清。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、Ehab、  

    查看下图、器件应遵循下图。 如果观察左上角的器件、则引脚 1 位于左侧、引脚 2 位于右侧。  

    封装顶部的左下角还应有一个点或凹痕来表示引脚 1。  

    根据这些信息、所有器件是否都将引脚 1 作为较小的引线框、引脚 2 作为较大的引线框? 我试图了解制造中的翻转方向是否存在问题。  

    无论哪种方式、由于这是双向器件、因此不应出现性能和可靠性方面的问题。 此外、器件的功能没有问题。  

    此致、

    McKenzie