This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TCAL9539-Q1:TCAL9539RTWRQ1 保持 SDA 线路为低电平。 测量 120 欧姆电阻接地

Guru**** 2779905 points

Other Parts Discussed in Thread: TCAL9539, TCAL9539-Q1

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1618296/tcal9539-q1-tcal9539rtwrq1-holding-sda-line-low-measuring-120ohm-to-ground

器件型号: TCAL9539-Q1
主题中讨论的其他器件: TCAL9539

我们在电路板中使用了 TCAL9539RTWRQ1IO 扩展器、 我们有一个电路板返回路径、其中 I2C 扩展器无法与总线上的外设通信。 探测 I2C SDA/SCL 时、SCL 似乎切换正常、但 SDA 线路卡在 0V。

 

TCAL9539 IO 扩展器是通过切断 SDA 线路与布线来确定出现的、这使 I2C SDA 线路可以正常切换。 GPIO 扩展器上的 SDA 线的读数仍为 120 Ω 接地电阻。

 

什么原因可能导致此问题? 在分析我们的所有输入时、没有应高于最大 IO 电压的输入信号。 下面是目前连接到我们扩展器的内容:

  • 8 通过 1k Ω 电阻调试蓝色 LED
  • 4 个 3.3V 反馈信号(切换为高电平或低电平)
  • 2 个模拟负载开关。 扩展器通过控制 EN 引脚来打开/关闭开关
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin:

    器件未通电时是否测量到 120 欧姆至 GND? 这表明 SDA 下拉驱动器存在一些内部损坏。  

    如果 TCAL9539-Q1 主动处于卡在低电平状态、然后测量电阻、则输出阻抗测量值为 120 欧姆至 GND、因为器件主动拉至低电平。  

    更换设备是否可以解决问题? 即、使用新的 TCAL9539-Q1 替换损坏的器件、以查看 IC 是否问题。  

    [引述 userid=“628403" url="“ url="~“~/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1618296/tcal9539-q1-tcal9539rtwrq1-holding-sda-line-low-measuring-120ohm-to-ground
    • 8 通过 1k Ω 电阻调试蓝色 LED
    • 4 个 3.3V 反馈信号(切换为高电平或低电平)
    • 2 个模拟负载开关。 扩展器通过控制 EN 引脚来打开/关闭开关
    [/报价]

    我最初认为此实现没有问题。 原理图有助于了解完整情况。  

    您是否有 TCAL9539-Q1 的 SDA 和 SCL 的示波器捕获? 我想知道是否有双时钟边沿导致 TCAL9539 卡在低电平。  

    我想了解这种卡在低电平的情况是由于控制器的双时钟边沿导致的、还是 SDA 由于器件内部损坏而卡在低电平导致的。  

    此致、

    Tyler

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、Tyler、  

    是的、SDA 上的 120 Ω 至 GND 测量值是在器件未通电时测得的值。 这就是为什么示波器上的 SDA 线一直保持在低电平的原因。 将器件与 MCU 断开后、MCU 的 I2C 再次正常工作。 SDA 线路仍在连接到 TCAL 元件 SDA 引脚的切断布线上测量 120 Ω(连接至 GND)。 下面是 I2C 扩展器原理图。 车门/锁存器输入来自源跟随器配置中右侧的电路。 当栅极的输入驱动为 5V 时、该电路的测量值为~3.0V。 IO 扩展器的其他输入连接到光耦合器、光耦合器根据其他状态输入来驱动 3.3V 输入。  

    但我怀疑右侧的电路、因为它是一个低阻抗输入、没有 TCAL IO 扩展器输入端的任何串联电阻。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin:

    因此、SDA 引脚似乎有明显的损坏。 我假设您将 TCAL9539-Q1 替换为另一个器件时、它可以正常工作、也就是说、问题将是由于有问题的 IC 所致。  

    原理图看起来没有问题。  

    SDA 引脚是否面临任何 ESD 风险?  

    SDA 为开漏、它能够通过其开漏驱动器灌入高达 20mA 的电流。 SDA 上的上拉电阻器的大小是否可能不正确、导致通过 SDA 消耗过多电流?  

    此致、

    Tyler

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、Tyler、

    是的、很明显零部件已损坏。

    电路板上带有暴露的测试点/过孔、因此 ESD 事件可能会损坏布线。

    我们在 SDA/SCL 线路上拉 10k Ω 上拉电阻、因此在最大.33mA 条件下。

    上面的源极跟随器电路看起来是否会通过 TCAL 输入引脚造成这种损坏?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin:

    我们仍在研究这一问题、并将很快作出答复。

    此致、

    插孔

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin:

    通常、IO 侧的 ESD 事件会损坏 IO、包括其 ESD 单元或部分输出驱动器 (PFET 或 nFET)。  

    如果损坏发生在 SDA 上、我不确定 IO 侧的 ESD 事件通过芯片耦合以损坏 SDA 引脚的可能性有多大、而不会损坏芯片的任何其他部分。  

    门状态为 P16。 该引脚距离 SDA 相当远。

    SDA 和散热焊盘之间更有可能存在一些焊桥导致短路。  

    此致、

    Tyler

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    这是可能的。 发生这种情况将是一种非常罕见的情况、但这确实有意义。 如果 SDA 短接至散热焊盘、这是否会导致该问题?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin:

    现在我想看看、将散热焊盘连接到 GND 并且 SDA 可能短接至 GND 会导致 I2C 总线无限期地卡在低电平、但不会造成损坏。 SDA 从 TCAL9539 拉至低电平的唯一时间(会导致损坏)是在 ACK 位或读取数据期间。 不过、要达到该点、i2c 总线需要正常工作、而不是一直处于低电平。  

    因此、我认为这个问题更有可能以某种方式与 ESD 相关。  

    此致、

    Tyler