Other Parts Discussed in Thread: SN65DSI86
器件型号: SN65DSI86
主题中讨论的其他器件: test2.
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
Other Parts Discussed in Thread: SN65DSI86
器件型号: SN65DSI86
主题中讨论的其他器件: test2.
您好、Jack、
TEST2 引脚为高电平使 SW 能够启用/禁用 ASSR、因此 TEST2 引脚始终可以连接高电平。
如果在 EN 的上升沿对 TEST2 采样为高电平、则寄存器 0x5A 可用于禁用 ASSR。
要回答您的问题:
尊敬的 Ikram:
感谢您的解释和支持。
请在下面查找我们的当前状态和测试结果。
1) 现状
目前 TEST2 引脚悬空 、因此假定设备在中运行 eDP 模式 。
但是、我们目前没有 eDP 连接所需的必要元件、这些元件是:
我们的当地 TI 经销商 ( 箭韩国 ) 也没有这些项目可用。
因此、我们决定通过修改 TEST2 硬件配置并验证 ASSR 行为来继续使用替代方法、而不是使用 eDP 显示进行测试。
2) 硬件修改和 ASSR 寄存器测试
在我们的电路板上、 TEST2 (BGA 焊球 B5) 最初保持打开。
为了更改 ASSR 模式条件、我们执行了 A BGA 焊球下的跳线接线修改 拉动电压 TEST2 至 1.8V(高电平) 。
此修改是昨天完成的、并按如下所述执行了验证测试。
示例信息
硬件: #3(TEST2→1.8V 高电平)
之前、当 TEST2 悬空时 0x5A 寄存器不可写入 。
将 TEST2 更改为之后 高电平 、注册表变为 可写的 、确认现在已正确识别 TEST2 状态。
寄存器访问结果:
这证实了这一点 0x5A 寄存器 R/W 访问现已可实现 当 TEST2 拉至高电平时。
3)~30 分钟后出现意外行为
大约之后 30 分钟 、 I2C 接口突然变得无法访问 。
最初、通信工作正常、但逐渐停止响应。
此行为表明为 a 芯片条件中可能存在的热相关变化 。
即使电路板冷却后、相同的症状仍然存在。
我们执行了一项 X 射线检查 、并且未发现物理焊接缺陷。
但是、我们怀疑这一点 热应力可能会导致器件条件发生逐渐变化 。
我们计划执行 热风枪返修(修整) 并重复下面的验证步骤。
4) 下一个验证计划
返工后、我们将重复以下检查:
请告知我们、在此过程中、是否应该检查任何额外的寄存器或建议的调试步骤。
此致、
Yoo Jaecheon Yoo
硬件工程师
标准 DP 输出中 HDMI 显示器支持问题 (SN65DSI86)
尊敬的 Ikram:
我们还有一个关于当前 DP 输出提供的 HDMI 显示器支持的其他问题。
我们的电路板具有一个由 SN65DSI86 驱动的标准 DisplayPort 输出、我们也希望根据客户要求支持 HDMI 监视器。
您能否帮助澄清以下几点?
在继续进行 HDMI 兼容性测试之前、我们想确认正确的方法。
此致、
柳在千