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[参考译文] SN55HVD233-SEP:材料损坏

Guru**** 2860250 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1637885/sn55hvd233-sep-material-damaged

器件型号: SN55HVD233-SEP

好的一天、

我们最近通过您的 TI 门户、在销售订单号 T06143089 (915274-02JOS) 下下单。 我们的最终用户已联系我们、告知材料存在铜空隙和腐蚀情况、如铅区域的结构体。 他们询问了这种材料的可持续性。 他们还能使用它吗?  如果是、他们要求 TI 提供文档、以确认使用此材料的可持续性。 PPleas 使用以下链接查看损坏的照片。 请尽快提出建议。 谢谢。  

 

材料:Damages.pdf 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Josh、  

    接触铜很可能表明引线镀层完整性可能已受到影响、这种 情况会对可焊性性能产生负面影响、从而 可能影响长期可靠性风险、尤其是在对腐蚀或机械应力敏感的环境中。  

    因此,不会推荐,因为我不相信它完全符合铅涂层的期望,谢谢  

     

    此致、

    Michael