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[参考译文] SN65HVD74:线路结束测试

Guru**** 2917990 points

Other Parts Discussed in Thread: SN65HVD74

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1651150/sn65hvd74-end-of-line-test

部件号: SN65HVD74

我正在构建一个质量数据库以涵盖建议的器件型号“SN65HVD74“、用于未来的设计、并希望获得有关如何监控 Texas Instruments Ic 符合性的一些信息。 是否有每个制造批次都必须通过的生产线结束测试、以证明符合数据表规范、以及此测试所采用的样品大小?

或者、是否有其他方法来监测元件规格随时间变化的情况?

感谢您的观看、

Muhammad Kamil

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Muhammad、

    我们确实有在组装后在所有器件上运行的自动测试程序。 此测试会测试数据表规格、但可能无法完全涵盖其中的规格、还可能包括数据表之外的规格。 100%的设备将通过此测试程序、如果任何序列失败、则可能会报废。  

    TI 会保密此自动测试程序、不会为客户提供实际正在测试的内容。  

    或者是否使用另一种方法来监视组件规格随时间变化的情况?

    我们不会对器件老化进行测试。 我的理解是、这种情况会因组件所处的环境以及它们在使用时所看到的压力而异。 位于温度受控室中、实际驱动负载的器件可能每隔几分钟就会出现一次不同的漂移、该漂移设置为接近其最大工作温度范围并在整个生命周期内持续驱动负载。

    - Bobby