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[参考译文] TUSB4020BPHPEVM：评估板未通过DCP模式的自动测试

admin
Guru**** 2455360 points
Other Parts Discussed in Thread: TUSB4020BI

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/604376/tusb4020bphpevm-eval-board-fails-automated-test-for-dcp-mode

部件号：TUSB4020BPHPEVM
主题中讨论的其他部件：TUSB4020BI

使用DCP模式的自动USB测试(USB-PET)时，我收到2个测试失败：

[30.D] 56.6146万 检查D+或D-的泄漏

[30. 56.6146万 ] 7. 通过100k将D+连接至0V

[30. 56.6153万 ] 8. 等待2秒钟以消除电容效应。

[32. 56.6153万 ] 9. 检查D+处的电压低于1.44V (两个RDAT_LKG (300k)

并联，VDAT_LKG = 3.6V)。

[32.D] 56.6158万 - D+/D-根据规格(V = 0.014V)测得的泄漏。

[32. 56.6166万 ] 10. 10.通过100K连接D+至3.6V。 通过100K将D连接至3.6V。

[32. 56.619万 ] 11. 等待2秒钟以消除电容效应。

[34. 56.619万 ] 12. 检查D+是否小于2.65V (两个RDAT_LKG (300k)英寸

并联，VDAT_LKG = 0伏)。

[34.D] 56.6197万 失败：D+/D-(V = 0.636V)导致泄漏源过大

以及

[34.D] 56.6216万 检查D+或D-的电容

[34. 56.6216万 ] 13. 放电标准1nF电容器和电容正在测试中

[34.NF] 56.6216万 通过1nF测试电容器将0V连接至D+。 将0V连接至D- VIA

200R电阻器。 DM之间有一个经过测试的<200R电阻器

和DP。 这将为标准1nF电容器和放电

被测电容为0V。 等待10毫秒。

[34. 57.624万 ] 14. 隔离电容

[34. 57.624万 ]断开测试电容器的0V连接以将其隔离。 断开连接

来自200R电阻器的0V。

[34. 57.6252万 注：我们现在将使用D+电压监视块来确定

在分摊费用过程中，D+是否上升

高于1.65V。 监视块放大器有一个限制

带宽设计，以便设置监视块电压

低于1.65V。 实际值可在中找到

测试脚本。

[34. 57.6252万 ] 15. 在容量之间分摊费用

[34.DP]将57.6253万 监控块设置为测试电压低于的电压

值必需。 通过1nF测试电容器将3.3V连接到D+。

等待1毫秒。 这允许在标准1nF之间共享电荷

正在测试的电容器和电容。

[34. 57.7276万 ] 16. 读取监视块，查看DP上的电压是否高于1.65V。 如果

它确实如此，那么测试中的电容小于1nF，然后

因此符合规格。

[34.nf] 57.7283万 故障：电容超过1nF。

[34. 57.7295万 ]测试结束

[34. 57.7309万 ]测试失败-(不妨碍进一步测试)。

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    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好Olan：

    预计电容会出现故障。 TUSB4020B是在USB电池充电规范中添加电容测试之前设计的。 预计不会出现其他测试失败，您能否确认通过EEPROM或OTP EFUSE禁用了自动代码？ 如果启用了自动模式，TUSB4020B将尝试进入不符合USB BC 1.2 规范的其他电池充电状态。

    此致，
    JMMN
  • 0
    TI__Guru**** 2455360 points
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    JMMN，您好！

    捆扎模式和EEPROM 模式都产生相同的测试 故障。  每个选项都将禁用自动模式。

    EEPROM内容包括：

    00 5.501万 0101.0101万 ROM签名-请勿修改！
    01 5.101万 0101.0001万 "Vendor ID LSB - can be modified.(供应商ID LSB -可修改。
    02 0.4万 0000.01万 "Vendor ID MSB - can be modified.(供应商ID MSB -可修改。
    03 2.5001万 0010.0101万 "Product ID LSB - can be modified
    04 8.01万 1000万 "产品ID MSB -可修改
    05 1万 0001万 “设备配置－可以修改
    06 0.3万 0000.0011万 "电池充电(1 =已启用)-可修改
    07 0.3万 0000.0011万 'evice Removable - can be modified.(设备可移动-可以修改。
    08 0万 0000万 'Port Used - can be modified.(已用端口-可修改。
    09 0万 0000万 'PHY Custom - can be modified.(PHY自定义-可修改。
    0A 2.2001万 0010.001万 "设备配置2 -可修改
    20 0.9万 0000.1001万 '语言ID -可修改
    21 0.4万 0000.01万 '语言ID - 可修改
    22 1.8万 0001.1万 ‘Serial Number String Length - can be modified.(串号字符串长度-可修改。
    23 0万 0000万 制造商字符串长度
    24 0万 0000万 '产品字符串长度
    F0 0万 0000万 '附加功能
    F2 0万 0000万 '充电端口控制寄存器

    谢谢- Olan

  • 0
    TI__Guru**** 2455360 points
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    您好，Olan：

    啊，我没有意识到自动代码在该集线器上默认是禁用的。

    另一个报告的故障也发生在设计此设备后添加的DCP电阻和电容测试模块中。 此错误是由于在DCP期间启用了单端接收器而导致的过量泄漏导致的，而不是不正确的充电。 我们没有发现DCP模式因这种泄漏而出现的功能问题。

    此致，
    JMMN
  • 0
    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

     除了前面列出的两个故障外，我们还在定制主板(TUSB4020)上获得了以下额外的DCP测试失败：

    [28. 40.4352万 ]检查D+和D-之间的电阻

    [28. 40.4353万 ] 6. 检查D+至D-的电阻是否小于RDCP_DAT最大值

    (200R)。即通过200R电阻器将2.0V电压连接到D+，然后连接

    通过200R电阻器至D-的0.05V电压。 测量D+和D-处的电压。

    差值必须小于0.67V。

    [28.VIN] 41.4391万 失败：电压差0.706V超过0.67V

    这也是预料之中的吗？

     

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    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    否，应该通过(见下文)。 您可能想尝试重新测试，我注意到此测试的值可能会有所不同。

    [23. 27.921万 ]检查D+和D-之间的电阻

    [23. 27.9211万 ] 6. 检查D+至D-的电阻是否小于RDCP_DAT最大值
    (200R)。即通过200R电阻器将2.0V电压连接到D+，然后连接
    通过200R电阻器至D-的0.05V电压。 测量D+和D-处的电压。
    差值必须小于0.67V。
    [23. 28.9248万 ] -电压差0.650V符合规格。
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    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    JMMN，您好！

    我已经在我们的定制板(3 个单独的板样)上进行了多次重新测试，但测试部分([23.D] 27.921万 检查D+和D-之间的电阻)仍然未通过测试。

    由于我们的USB连接器和 TUSB4020BI芯片之间没有明显的电阻...

    你能建议我检查一下，这可能会影响到这一点吗？  

    谢谢

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    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Olan，

    很抱歉耽误您的时间，我们的USB_PET正在发送进行校准。 我将在Allion UCPET上重新测试TUSB4020B，以查看电阻是否为临界值。

    此致，
    JMMN
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    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    JMMN，

    Allion UCPET的结果将非常有用。

    此DCP子测试(检查D+和D-之间的电阻)可能是USB-PET和定制板之间的测试计时问题。

    USB-PET测量约为211欧姆，测试规格要求低于200欧姆。  用数字万用表手动测量结果为80欧姆，即“通过”。

    谢谢- Olan

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    TI__Guru**** 2455360 points
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    您好，Olan：

    在使用Allion UCPET工具上的TUSB4020B时，我在DCP模式下看到的电阻与您使用MQP工具报告的电阻相同。 我检查了我的测试日志存档，在早期测试中，某些设备确实出现了此问题-故障似乎微不足道，并且因设备而异。 故障的根本原因是在DCP模式下，USB 2.0 15K下拉菜单仍处于启用状态。 同样，我们没有发现此问题的任何功能充电问题，但我们的下一代集线器解决了此问题。

    此致，
    JMMN
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    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    JMMN，

    感谢您的测试和说明。  请确认TI没有 与TUSB4020BI引脚兼容的下一代集线器。

    奥兰

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    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Olan，

    我们目前没有与TUSB4020BI引脚兼容的下一代集线器，也没有即将推出的发展蓝图。

    此致，

    JMMN

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    TI__Guru**** 2455360 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    JMMN，

    感谢您的回答。  祝你度过美好的一天！

    奥兰