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[参考译文] TPD1E10B06:瞬态测试问题

Guru**** 2457760 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/605332/tpd1e10b06-transient-test-issue

部件号:TPD1E10B06
主题中讨论的其他部件:Strike

您好,

我有一位客户目前在其(4)个金属按钮上使用一个TPD1E10B6。 ESD二极管与他的按钮平行(一 个节点连接 到MSP430上的GPIO,另一个节点连接到接地)。 为了测试其有效性,我的客户在按下金属按钮时通过探针将15kV瞬态电压应用到金属按钮上。 独特的部分是,在我的客户应用此瞬态后,MSP430重置是意外的,因为ESD二极管额定电压高达30kV,并且应该将该电荷重新接地。 根据您的经验,还有一些其他产品更适合按钮应用程序,或者我们在配置瞬态方案时可能会出现错误。 您可以在调试过程中为此提供的任何反馈都很有帮助。

再次感谢,

-Amanda

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Amanda,

    因此,据我所知,您按下按钮并在按下设备时敲击设备?

    我想看看您按下按钮时的阻抗是什么。 理想情况下,电阻应为0欧姆,这意味着在ESD冲击期间,最小电阻路径将通过按钮,而不是通过ESD二极管。 这是我根据您所说的话的最佳猜测,因此我会在按钮上添加一个小电阻,以使电流远离。

    你能不能给我发送一个示意图,说明你的敲击位置,也许是显示MCU的敲击和复位引脚的波形。

    此致,

    Cameron