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[参考译文] DP8.3867万ERGZ-S-EVM:模板测试点F,H的兼容性测试失败

Guru**** 2463330 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/632919/dp83867ergz-s-evm-compliance-test-fail-at-template-test-point-f-h

部件号:DP8.3867万ERGZ-S-EVM

您好,

我的客户遇到了DP8.3867万ERGZ-S-EVM兼容性测试失败的问题。
失败位于模板测试点F,H
请参阅附加的测试结果文件。
您能否回答以下问题?

问题1:TI是否确认通过了DP8.3867万ERGZ-S-EVM的符合性测试?

问题2:如果以上答案为"是",您能否提供测试结果?

问题3:您能否告诉我为什么模板测试点F,H的结果失败?

e2e.ti.com/.../TI_2D00_P1.pdf

此致,
Shimizu

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    Shimizu-san您好,

    感谢您使用TI论坛。 我们的产品专家将在周五之前回复您。
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    Shimizu-san您好,

    我们已经测试了DP8.3867万的合规性,但这些结果只能在NDA下共享。 对于调试此问题,您能否检查客户是否已按照合规性应用程序说明实施正确的测试模式?
    www.ti.com/.../snla239a.pdf

    此致,
    Aniruddha
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    您好,Aniruddha-san,

    感谢您的支持。
    客户没有查看合规性应用程序说明。
    客户正在阅读此应用说明,以便立即重试合规性。

    客户对此应用程序便笺有疑问。

    0x01D5地址显示在第12页的应用说明中。
    此寄存器是什么?
    数据表中未显示此寄存器。

    请问你能否给我一份有关这份地址的文件?

    此致,
    Shimizu

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    您好,Aniruddha-san,

    上述问题的进展如何?


    此致,
    Shimizu
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    Shimizu-san您好,

    0x1D5是输出正确波形以进行合规性测试所需的内部寄存器设置。 寄存器与PHY的内部操作有关,因此我们不能披露信息。

    此致,
    Aniruddha
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    您好,Aniruddha-san,

    感谢您的支持。
    我的客户可以通过设置Reg 0x01D5 = 0xF508来通过合规性测试。

    在大批量产品情况下,是否也应设置Reg 0x01D5 = 0xF508?
    我们认为此地址会影响信号质量。

    此致,
    Shimizu

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    您好,Aniruddha-san,

    这个问题的进展如何?

    我也向另一位客户询问了这个问题。  

    如果您想在当地进行沟通,请发送电子邮件给我

    我是TI日本富士电子公司的一个迷。

    我的电子邮件地址是m-shimizu@fujiele.co.jp。

    此致,

    Shimizu

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    嗨,Shimizu,

    很抱歉耽误你的时间。 我会研究此事,并于明日(星期二)前与各位再次取得有关的结果。

    此致,
    罗斯
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    Shimizu-san您好,

    0x1D5寄存器设置只能在合规性测试中使用。 合规性测试完成后,应将寄存器恢复为原始值。

    此致,
    Aniruddha