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[参考译文] TLK1.0232万:TLK1.0232万 HS的优化流程

Guru**** 2482105 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/666955/tlk10232-optimization-flow-of-tlk10232-hs

部件号:TLK1.0232万

您好,

我们遇到了一个与非常相似的问题

e2e.ti.com/.../64.9576万

除了我们使用Xilinx的FPGA之外,我们目前还处于试运行阶段

由于Luis提到"遗憾的是,由于用户需要以不同组合扫描HS_SERDES_CONTINT_2和3的不同值,因此这些"调整"阶段是详尽无遗的,当启用链路培训时,此过程是自动的,但在10GBASE-R中必须禁用此功能。"

我们想知道何时应继续执行此手动链路培训流程?

系统何时启动?

光纤是否已重新插入?

或者,我们只需要为一个PCB设计继续进行一次?

此外,还可以更改光纤模块以支持10GBASE-SR和10GBASE-LR。

此致,

Roger Chang

亚腾国际有限公司

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    您好,Roger,

    TLK1.0232万旨在与背板应用程序(10GBASE-KR)连接。 尽管如此,此设备能够通过10GBASE-R与SFP+光纤模块连接,因为它使用的PC与10GBASE-KR相同。 当TLK1.0232万与光学模块连接时,应禁用链路培训和自动协商。
    由于链路培训被禁用,必须根据系统的特性(如交流电损耗,电流长度等)调整SerDes设置(HS_SERDES_CONTRAT_2和3)。

    此致,
    Luis Omar Moran
    高速接口
    SWAT团队
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    您好,Luis,

    感谢您的回复。

    让我表达我的理解。 在我们的应用中,SFP+模块在 制造过程中与我们的产品组装在一起。 由于   TLK1.0232万和 SFP+模块的组合可能有一些特性变化,我们应该运行环回BER测试以调整SerDes设置(HS_SERDES_CONTRAT_2和3),并在制造过程中将最佳值保存在DUT中。 是这样吗?

    此致,

    罗杰

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    您好,Louis:

    是否有任何更新?

    此致,

    罗杰

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    您好,Roger,

    很抱歉回复延迟。 必须执行BER测试,以根据每个系统的特性调整SerDes设置。 一旦获得最佳设置(HS_ERROR_counter寄存器中的0错误位),该测试应在多个单元中执行,以双重检查所涉及寄存器的值,从而优化链接。 然后,这些设置应适用于同一设计中的所有装置。

    此致,
    Luis Omar Moran
    高速接口
    SWAT团队