[参考译文] TLK1.0232万：位错误率测试

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https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/663257/tlk10232-bit-error-rate-testing

部件号：TLK1.0232万

是否有方法从TLK1.0232万芯片内获取BER？虽然EVM GUI具有此功能，但使用USB时不必处理电平转换器和其他接口问题，这将是非常好的。该设备具有每个通道的错误计数器寄存器以及高BER条件检测寄存器。读取这些寄存器是否足以获得真正的位错误率？

7 年多前

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2481465 points

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TLK1.0232万具有内置位错误计数器。基本上，如果信号缺陷主要是"可实现的"，即它们是由物理媒体丢失/反射/等造成的，可通过决策反馈均衡器(DFE)补偿，则可以通过完全闭合的输入眼实现较低的BER。设备的这种功能包含在抖动容差规范中，该规范表示在存在信道衰减，附加随机和确定性抖动以及宽带随机噪声的情况下BER < 1e-12操作。
要降低BER，应通过HS_SERDES_CONTINT_2和HS_SERDES_CONTINT_3调整设备，以根据系统的特性(交流电损耗，迹线长度等)优化链路

接口（参考译文帖）

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[参考译文] TLK1.0232万：位错误率测试