我们目前正在尝试对产品的USB主机执行高速信号测试，该主机目前正在通过TUSB4041IPAPR。 我们意识到USB.org和我们的CPU供应商(https://www.allion.com/test-fixture/hsehet/)推荐的USB 2.0 测试装置不适合直接生成测试数据包。
我怀疑集线器不支持EHCI，因此我们无法遵循USB.org上的常规程序。 在与NXP的支持团队进行了一些讨论后，我们得知我们可能需要您的帮助，以便通过Linux而不是使用外部测试装置来触发测试数据包。
NXP提供了Microchip HUB的一个示例，并建议您就类似方法向您寻求指导。
您是否有设置USB 2.0 预合规性测试的指南？
JMMN，您好！
客户回复：
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我们一直在通过软件解决方案触发USB测试数据包，其中包含来自不同供应商的示例：
在测试数据包上执行眼图测试后，我们发现TUSB4041的信号幅度有所不同 ，测试失败，因为超出最大/最小电压水平，并且奇怪的是，整个脉冲的电压水平不同。 出现这种问题的原因是什么？ 我附上 集线器示意图的一部分以供参考。
相比之下，我们有一个类似的集线器，它来自不同的供应商，而不是我们主板的旧版本。
e2e.ti.com/.../USB-Hub-Schematic.pdf
非常感谢您的帮助。
客户通过了所有端口的眼图测试，感谢您的帮助。
但是，还有其他一些测试需要您的帮助，适用于
1.主机后端：同步字段计时出现故障
2. Host 3, Host Front (主机3，主机正面)：CHIRP计时似乎出现故障
我随附了一个PDF供您参考，该PDF遵循我昨天发送的示意图的命名。
e2e.ti.com/.../USB-problem-summary.pdf
您认为原因可能是什么？ 到目前为止，只有1个端口(主机4通过，没有故障)，我不确定是设置有故障还是在电路级别可以执行某些操作？
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关于精密参考电阻器从9.5k更改为10k，眼图测试中的过冲如何影响USB主机的功能？ 我们已进入生产的一半阶段，正在决定是否立即进行更改。
您好，
EL_21不打算在重复的数据包上运行，我不希望它通过集线器的下游端口。
EL_33应该通过，您能否放大此部分，以便我从集线器端口看到Device chirp K和KJKJ之间的过渡：
您能否分享一个原理图？
本应用手册详细介绍了R1电阻器，但它仅影响变送器驱动强度。
此致，
JMMN
可能是边缘检测采用了错误的边缘来测量时间，并且随着客户更换不同的电缆并进行多次尝试，大多数测试都成功。
在功能方面，2.0 的操作中，发射器的驱动强度会有什么问题？ 我们只关心USB故障，而不是通过测试。
我在2.0 的SCONI规格中看到，这可能会影响集线器的断开连接检测。 您是否熟悉比必要的驱动强度更强的含义？
10公里
10公里
谢谢。
您好，Prahlad：
发射器摆动过大的问题是可能会触发错误的断开。
根据USB 2.0 规格：
设备是直接连接到端口还是通过电缆连接的典型应用是什么？
此致，
JMMN
