尊敬的团队:
我的客户正在使用 TUSB8020、并测试其物理层。 但是、他们发现测试项目1、2和5失败、如图1所示。 测试循环为 SOC USB3.0 - TUSB8020、如图2所示。 但是、它们首先对 TUSB8020短路、然后发现测试项目可以通过。 您能否帮助分享他们需要配置哪些类型的参数来改进?

图1.

图2.
原理图如下所示:
测试项目1波形:

测试项目2波形:

测试项目5波形:

谢谢!
迪伦
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尊敬的团队:
我的客户正在使用 TUSB8020、并测试其物理层。 但是、他们发现测试项目1、2和5失败、如图1所示。 测试循环为 SOC USB3.0 - TUSB8020、如图2所示。 但是、它们首先对 TUSB8020短路、然后发现测试项目可以通过。 您能否帮助分享他们需要配置哪些类型的参数来改进?

图1.

图2.
原理图如下所示:
测试项目1波形:

测试项目2波形:

测试项目5波形:

谢谢!
迪伦
您好!Dylan、
由于客户使用的是重复测试数据包、因此这些测试结果是预期的。
重复测试数据包=由 USB 主机生成、然后在集线器的下行端口测量(或由 USB 器件生成、然后在集线器的上行端口测量)。 根据 USB 2.0规范、一个重复测试数据包将具有 EOP 驱动字节和丢失的 SYNC 位。
您需要使用 USBHSET 工具使集线器直接在下行端口上生成测试数据包、以便通过所有默认信号质量合规性测试。
此致、
JMMN