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器件型号：SN65LVCP114 您好专家、
客户将 SN65LVCP114与 QFP 一起使用、 并报告 在进入老化测试(45±5C) 15分钟时检测到一些具有异常眼图的故障；下降率4/37。
他们进行了 IC 换用测试、发现 芯片出现故障。 以下是供您参考的其他注意事项。 请您查看并告知可能的原因以及如何解决？
故障器件：
只需使用 lane1数据作为我们的参考即可。
100g 虚拟负载：眼图 U+D = 300mV
40G 虚拟负载：眼图 U+D = 244mV
良好的设备：
只需使用 lane1数据作为我们的参考即可。
100g 虚拟负载：眼图 U+D = 313mV
40G 虚拟负载：眼图 U+D = 325mV
e2e.ti.com/.../NAPANOOK-Saturation-port-1-RX-fail.pdf
谢谢、
Allan
