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https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1136922/sn65hvd63-aisg-emission-mask-measurement-setup
您好！
对于 SN65HVD6x、请告诉我 ASIG 发射频谱的测量设置(SN65HVD63数据表中的图21、图1和图2)。 我的客户打算在其实验室中的相同设置下测量频谱。 谢谢！
您好、Ella、
这些测试设置由 TS 25.461标准定义-您可以在此处找到该标准： https://www.etsi.org/deliver/etsi_ts/125400_125499/125461/13.01.00_60/ts_125461v130100p.pdf
最棒的
Parker Dodson
您好、Parker、
感谢您的回答！ 我查看了文档、但我的客户询问物理设置；在 OOK 输出和 IC 输入、测量点等之间使用的设备、以便他们可以在 实验室中的相同设置下继续进行 ASIG 发射频谱测量。
图21是一个掩模-不是一个测量值。
发射设置为：
如数据表中所述、RXIn 接地端具有470pF 电容器-注释(2)
2.输出与具有50欧姆特性阻抗的同轴电缆耦合、然后馈入频谱分析仪。 如数据表表中所示-没有真正指定用于设置的任何其他内容。 尽量缩短分析仪和输出之间的连接距离、以改善结果、因为电缆越长、其性能就越差。
这是硬件设置-掩码是要测试的内容(基本上是一条限制线)。 将输出连接到同轴电缆、并将 RXIN 电容接地470pF。
