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[参考译文] THVD1429:THVD1429在2k 浪涌测试时失败

Guru**** 2379540 points
Other Parts Discussed in Thread: THVD1429
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/999142/thvd1429-the-thvd1429-failed-at-2k-surge-test

器件型号:THVD1429

大家好、

我们的客户在其电路板上使用了 THVD1429、但在认证测试期间、芯片在2kV 浪涌测试中失败。 故障模式是 DATA+数据到 VCC 和 GND 短路。 我知道该器件可承受高达2.5kV 的浪涌电压。  

以下是客户提供的其他信息。

  1. PCB 通过连接到 CN2的电缆进行测试(4米)。 此电缆路由 VIN (5-32V、24V 标称值)、DGND、Data+、Data -。
  2. 1kV 条件下流入 VIN 和 DGND 信号的浪涌测试 正常。
  3. 2kV 条件下进入 VIN 和 DGND 信号的浪涌测试 不正常、因为 THVD1429芯片在内部通过 Data+& Data-& 3V3 & DGND 短路。 (PCB 的其余电子器件处于活动状态)。

这里是原理图、PCB 布局和一些有关浪涌测试的信息。

  

顶层

底层

您能帮我们解决这个问题吗?

感谢您的支持!

此致、

Danilo

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    达尼洛

    您能否详细说明浪涌测试的细节? THVD1429 通过 了1.2/50us 浪涌测试、串联 电阻为40欧姆(2个并联80欧姆)。

    就峰值电流而言、 峰值约为62.5A。 此外 、DUT 也未按照  IEC 61000-4-4 标准供电。

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    大家好、根据认证中心、测试是作为直流电源线定义进行的、建议的耦合网络适用于 I/O 信号测试。 在 VIN 与 DGND 中的2kV 浪涌期间发生故障、而在 Data+与 Data-中的2kV 浪涌期间未发生故障。    

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    不同的测试具有不同的耦合网络。 此应用手册提供了良好的信息。

    揭秘浪涌保护

    对于通信线路、冲击是相对于接地的。

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    Hao L、您好、感谢您的回复。 是的、我们知道。 我只是补充说、THVD1429芯片在 直流电源测试线路期间而不是信号测试期间死亡。 我不知道在测试期间浪涌是否能够沿外部电缆耦合 、从而导致 THVD1429发生故障(在此直流电源浪涌测试期间、没有40欧姆的耦合网络)。 有可能吗? THVD1429上的这种浪涌是否可以短路 VCC、GND、D+和 D-?  

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    豪尔赫、

    我明白了。 很抱歉、我花了一段时间才理解您的问题。 我不是电源设计方面的专家。 但我认为可能的解释是、能量被转移(耦合)到意外的位置。 您能否确认 A 和 B 是否已损坏? 您能否告诉每一个短路到 Vcc 或接地? 我在布局中看不到 D8。 它是否靠近连接器? C36呢? 我不确定 D_P 路由是否过于接近 V_IN。 如果是这种情况、增加 C1和 C5可能会有所帮助。 另一个要点是使旁路电容器 C5靠近 IC 并选择1uF。

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    您好、Hao、感谢您的建议。 我附上了一张新的顶层图片、以阐明组件的位置。 增大 C1、C5和 C8值的想法很有趣、因为问题可能是由与差分模式或共模 绝对最大值(15V 我认为)相关的问题引起的。  

       

     死亡的 IC THVD1429的 VCC 接地至 D+至 D-短路(所有引脚一起)、 认证中心添加到我的另一点是芯片在多次浪涌后死亡(正如您知道的、IEC61000描述测试是几个浪涌脉冲) 因此、问题未在第一个脉冲之后开始。

    感谢你的帮助

    此致

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    豪尔赫、

    我认为组件位置很好。 由于 U11和 U6正常、我想路径可能会绕过电路的这一部分。 如果芯片未立即损坏、泄露到 THVD1429的电流/电压可能略高于绝对最大值 我不确定您是否有任何软件可以进行一些分析。 另一个想法是、您可以一次在不同的位置(Vcc 至 GND、D+至 GND、D-至 GND、D+至 D-)添加 TVS、以查看哪种情况有用。 您可能会向后获取线索。  

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    感谢您的回复。 添加组件(如 TVS)并不容易 、因为我们没有为它们增加额外的占用空间、但我们将在 D+ D-(R1、R11)处使用串行 PTC 进行测试。 此致