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[参考译文] THVD1450:THVD1450可锁存(芯片烧坏)

Guru**** 2378650 points
Other Parts Discussed in Thread: THVD1450
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/883045/thvd1450-thvd1450-possible-latch-up-chip-burnt

器件型号:THVD1450

你好

我们使用 THVD1450设计并测试了一些电路板。 电路板运行良好、但每次加电时、我们都会看到电路板上的 THVD1450芯片变热、有时甚至会烧坏。 附件是一张图片。 iC4是 THVD1450。 引脚 A 对地短路。 所有板载稳压器工作正常。 当器件被除色时、短接消失。  

在电路板上进行一些调试后、我们觉得 THVD1450存在问题、这可能是闩锁问题、因为它仅在启动的前几分钟发生。 在浏览数据表后、我注意到以下情况。  

数据表第29页、布局指南第7页、其中提到以下内容

'如果 TVS 钳位电压高于收发器总线引脚的指定最大电压、请将抗脉冲电阻器插入 A 和 B 总线线路。 这些电阻器可限制流入收发器的剩余钳位电流、并防止其锁存。"

数据表上的图37还显示了我们未在设计中放置的这些脉冲耐电阻器。 我有 SM712 ESD 器件、可在1A 电流下提供~19的钳位电压。  

有鉴于此、我们将更改设计以放置这些电阻器、 但是、我想与 TI 的专家进行快速检查、以确保 THVD1450烧断问题确实是一个闩锁问题、因为缺少脉冲耐受电阻器、或者它是否是其他问题的迹象? 我猜 TI 的应用工程师一定会遇到类似的问题吗?  

谢谢

Raghu

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    您好 Raghu、

    这张照片是否显示引脚7附近的塑料包装甚至熔化了一点?  我唯一能想到的是、这种情况会导致该级别的发热、这可能是闩锁(如您提到的)或在总线引脚上施加的一些其他极端应力(例如对高直流电源短路或大瞬态电压/电流尖峰)。

    我们没有任何与此器件上的闩锁相关的已知问题。  它在生产之前经过了闩锁抗扰度测试、我想说、大部分电流应用不在总线上使用串联电流限制电阻。  因此、虽然我们不应将其排除为根本原因、但我希望更好地了解此应用中的用法、以查看它是否会产生任何非典型应力。

    有多少设备发生故障、测试了多少个?

    是否在上电时或故障发生前的任何时间点连接到 A/B 线路、或者它们是否保持浮动、如您的照片所示?  如果连接了某个元件、是否可以在示波器上监控其电压、以确保所有元件都保持在预期范围内?  (SM712应该有助于实施这一点、但我仍想检查一下。)

    您是否在示波器上观察到 VCC 斜升、以验证它是否在没有明显过冲的情况下达到目标电平?

    我假设 C1/C14是去耦电容-它们的值是多少?

    此致、
    最大

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    您好 Raghu、

    您是否找到了此问题的任何解决方案?  如果没有、您能否查看我的上述问题?

    谢谢、
    最大

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    您好、Max  

    很抱歉耽误你的回答。 此主题的通知转到了我的垃圾邮件、我忙于处理其他事情、以至于我忘记了这个问题。 抱歉。

     我们已发送新设计用于制造和组装。 我将通知您结果。 但我也想回答你的问题。  

    1、故障器件数、测试器件数? 我们有大约30块电路板。 在这两种情况中、有一种失败并烧坏了、但另一种情况下遇到了启动期间芯片升温但不会烧坏的问题

    2.是否在加电时或故障发生前的任何时间点连接到 A/B 线路、或者它们是否保持浮动、如您的照片所示? -在启动期间、A/B 线路被保持悬空。  

    3.您是否在示波器上观察到 VCC 斜升、以验证它是否在没有明显过冲的情况下达到目标电平?-我们没有针对过冲进行过冲。 我将对此进行研究。  

    4.我假设 C1/C14是去耦电容-它们的值是多少?-是的。 它们都是100nF  

    谢谢

    Raghu

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    Raghu、

    感谢您的更新。  这是一个非常令人困惑的问题、因为您描述的任何内容都听起来像是对器件的过度压力。  接下来、我肯定会检查相对于 IC GND 的 VCC 波形、以确保它处于目标电平、并且过冲或纹波不会导致绝对最大额定值违规。

    最大

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    您好、Max

    因此、我们检查了 Vcc 电压轨、对于我们的所有3种设计、5V 电压轨上似乎没有任何过冲。 这是在启动期间、我们看到了假定的"闩锁"问题。  

    一旦我们将新电路板从组装中重新组装、我将使用这些电路板更新测试。

    谢谢

    Raghu